激光共聚焦顯微鏡OLS5100可觀察納米范圍的臺階創造性，并可測量亞微米級別的高度差。還可以測量從線到面的表面粗糙度道路。配備的兩套光學(xué)系統(tǒng)（彩色成像光學(xué)系統(tǒng)和激光共焦光學(xué)系統(tǒng)）讓其能夠獲取彩色信息規模設備、高度信息和高分辨率圖像。
激光共聚焦顯微鏡OLS5100 有4大關(guān)鍵價值：
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捕捉任意表面形狀指導。
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快速獲得可靠數(shù)據(jù)競爭力。
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使用簡單 - 只需放置樣品并按一下按鈕即可。
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測量具有挑戰(zhàn)性的樣品進一步完善。
價值1：捕捉任意表面形狀製造業。
OLS5100顯微鏡的技術(shù)使其能夠進行高分辨率的3D樣品測量。
價值2關規定、快速獲得可靠數(shù)據(jù)
該顯微鏡的掃描算法既可提高數(shù)據(jù)質(zhì)量又可提高速度發展基礎，從而縮短您的掃描時間，簡化您的工作流程建強保護，最終實現(xiàn)生產(chǎn)力的提升同期。
價值3、使用簡單使命責任，只需放置樣品并按一下按鈕即可
LEXT® OLS5100顯微鏡具有自動數(shù)據(jù)采集功能效果，因而無需進行復(fù)雜的設(shè)置調(diào)整。 甚至生疏的用戶也可以獲得準(zhǔn)確的檢測結(jié)果情況較常見。
價值4可持續、可測量具有挑戰(zhàn)性的樣品
低輸出、非接觸式無損激光測量意味著不需要樣品制備體製嫿?？梢栽诓粨p壞易損性材料的情況下對其進行測量。擴展架可容納高達(dá)210毫米的樣品服務延伸，而超長工作距離物鏡能夠測量深度可達(dá)25毫米的凹坑共創輝煌。在測量這兩類樣品時，您只需將樣品放在載物臺上即可進一步。
激光共聚焦顯微鏡OLS5100獲取彩色信息
彩色成像光學(xué)系統(tǒng)使用利用白光LED光源和CMOS相機獲取彩色信息大部分。
[獲取3D 高度信息和高分辨率共焦圖像]
激光共焦光學(xué)系統(tǒng)采用405納米激光二極管光源和高靈敏度光電倍增管獲得共焦圖像。淺焦深使其能夠用于測量樣品的表面不規(guī)則性實際需求。
激光共聚焦顯微鏡OLS5100 405納米激光光源
光學(xué)顯微鏡的橫向分辨率隨著波長的減小而獲得提升解決方案。采用短波長激光的激光顯微鏡相比采用可見光（峰值550納米）的傳統(tǒng)顯微鏡具有更優(yōu)的橫向分辨率。 OLS5100顯微鏡利用405納米短波長激光二極管獲得的橫向分辨率善謀新篇。
激光共聚焦顯微鏡OLS5100激光共焦光學(xué)系統(tǒng)
激光共焦光學(xué)系統(tǒng)僅接收通過圓形針孔聚焦的光線增產，并非采集從樣品上反射和散射的所有光線結構。這樣有助于消除模糊，讓其能夠獲得比普通顯微鏡對比度更高的圖像
激光共聚焦顯微鏡OLS5100 X-Y掃描儀
OLS5100顯微鏡配有奧林巴斯光學(xué)掃描儀貢獻。通過將采用電磁感應(yīng)MEMS諧振掃描儀的X軸與采用Galvano掃描振鏡的Y軸相結(jié)合規模最大，能夠讓X-Y掃描儀定位于相對物鏡瞳鏡共軛的位置，因而能夠?qū)崿F(xiàn)具有較低掃描軌跡失真和較小光學(xué)像差的X-Y掃描統籌。
激光共聚焦顯微鏡OLS5100高度測量原理
在測量高度時最深厚的底氣，顯微鏡通過自動移動焦點位置獲取多個共焦圖像。
根據(jù)非連續(xù)的焦點位置（Z）和檢測光強度（I）可以估算每個像素的光強變化曲線（I-Z曲線）振奮起來，并獲得其峰值位置和峰值強度品質。由于所有像素的峰值位置與樣品表面的不規(guī)則性相對應(yīng)，因此可以獲得樣品表面的3D形狀信息深入各系統。與此類似解決問題，通過峰值強度數(shù)據(jù)可以獲得針對樣品表面所有位置焦點的圖像（擴展圖像）。
