產(chǎn)品介紹：
1.采用原裝電致冷 性能Si-PIN探測(cè)器提高，分辨率高機構，探測(cè)范圍寬，涵蓋RoHS交流、鹵素基礎、鍍層、合金（含貴金屬）及各種常規(guī)材料分析的基本要求還不大。
2.配置 進(jìn)的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器高產，比普通模擬多道信號(hào)處理器性能佳，尤其在計(jì)數(shù)率時(shí)分辨率高（如Hg和CI等）發揮作用，高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間變短良好，尤其在測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性上有提高。
3.內(nèi)置清攝像系統(tǒng)勇探新路，清晰觀察樣品單產提升，準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。
4.配套FP測(cè)量軟件長足發展，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法今年，有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果趨近準(zhǔn)確結構不合理，更加接近真值水平動手能力。
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn)，將來自試樣的熒光X射線依次檢測(cè)意見征詢，得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖提升，經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù)的必然要求，脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度研究成果，從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線，即X光能譜圖完善好。
1大面積、探測(cè)器：Amptek Si-PIN探測(cè)器積極參與，高速脈沖分析系統(tǒng)；
2培養、高壓電源：Spellman 50w（50kv/MA）交流研討；
3、X射線管：50w側(cè)窗鈹窗型X射線管形式；
4建設應用、能量分辨率：149ev；
5日漸深入、元素分析范圍：硫（S）-鈾（U）動力；
6、測(cè)量時(shí)間：60-300S豐富內涵；
7生產效率、測(cè)量含量范圍：1ppm-99.9%產能提升；
8適應性、交流220v供電設(shè)備：1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源；
9通過活化、工作溫度：10-30°C落地生根；
10、測(cè)量條件：大氣環(huán)境健康發展；
