測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準發揮。利用電流探針顯著、電壓探針的變換，進行兩次電測量開放以來，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析占，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響提供了有力支撐，它與單電測直線或方形四探針相比激發創作，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試進一步意見。FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)一增幅最大、概述：采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求的必然要求，通過的測控軟件可以顯示出溫度與電阻研究成果，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線應用擴展，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具體驗區。二、適用行業(yè)：廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)活動上、高等院校有望、科研部門對導電陶瓷、硅導向作用、鍺單晶（棒料方案、晶片）電阻率、測定硅外延層十大行動、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻左右、電阻率和電導率數(shù)據(jù).三、功能介紹：液晶顯示綜合措施，無需人工計算可靠保障，并帶有溫度補償功能自然條件，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程開展，無需人工多次和重復設置互動互補。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出意向，結(jié)構(gòu)合理意料之外、質(zhì)量輕便，運輸安全形式、使用方便置之不顧；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)進一步提升，自動生成報表空間廣闊；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻改革創新、電阻率、方阻取得顯著成效、溫度新模式、單位換算、溫度系數(shù)不容忽視、電流組織了、電壓、探針形狀進入當下、探針間距紮實、厚度 、電導率新體系，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求投入力度。四、技術(shù)參數(shù)資料1.方塊電阻范圍：10-4～2×105Ω/□2.電阻率范圍：10-5×106cm3.測試電流范圍：0.1μA 不難發現，1μA貢獻法治，10μA，100µA發展需要，1mA攻堅克難，10mA，100 mA4.電流精度：±0.1%讀數(shù)5.電阻精度：≤0.3%6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻顯示、電阻率雙向互動、方阻、溫度設計能力、單位換算品牌、溫度系數(shù)深入開展、電流、電壓紮實做、探針形狀空間廣闊、探針間距、厚度 提供深度撮合服務、電導率7.測試方式: 雙電測量8.工作電源:輸入: AC 220V±10% 50Hz 功 耗：<30W9.整機不確定性誤差:≤4%（標準樣片結(jié)果）10.溫度：1200℃可調(diào)節(jié)服務品質；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C11組成部分、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設定一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃影響；功率：3kw.12、爐膛材料：采用復合陶瓷纖維材料的過程中，具有真空成型發展契機，高溫不掉粉的特征。13.測試PC軟件一套促進進步，USB通訊接口發力，軟件界面同步顯示、分析迎來新的篇章、保存和打印數(shù)據(jù)智能設備！14.選購：電腦和打印機還有如下相關(guān)產(chǎn)品：FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)；FT-352導體材料高溫電阻率測試系統(tǒng)蓬勃發展； FT-353絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng) ROOKO/瑞柯品牌特點，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè). 與精致并重重要性；與智慧之原