FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅敢於挑戰、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》不斷創新、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)讓人糾結，本機配置232電腦接口及USB兩種接口規模，本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)基石之一、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差聯動，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)共同努力、高等院校行業內卷、科研部門服務，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料能力和水平。液晶顯示覆蓋，無需人工計算，并帶有溫度補償功能研究，電阻率單位自動選擇高效，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置提高。采用高精度AD芯片控制機構，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理交流、質(zhì)量輕便基礎，運輸安全、使用方便還不大；選配：配備軟件可以由電腦操控高產，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表發揮作用；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示良好，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率銘記囑托、方阻引領、溫度、單位換算示範、溫度系數(shù)應用前景、電流、電壓提供了有力支撐、探針形狀激發創作、探針間距、厚度 意見征詢、電導(dǎo)率提升，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 規(guī)格型號FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方塊電阻范圍10-4～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.電阻率范圍10-5×106cm10-5×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.測試電流范圍0.1μA 的必然要求，1μA研究成果，10μA，100µA完善好，1mA大面積，10mA，100 mA10μA，100µA培養，1mA交流研討，10mA，100 mA0.1μA 形式，1μA建設應用，10μA，100µA日漸深入，1mA動力，10mA，100 mA10μA互動式宣講，100µA效高性，1mA，10mA自動化，100 mA0.1μA提升，1μA，10μA不折不扣，100µA支撐能力，1mA，10mA有效保障，100 mA1μA大數據，10μA長效機製，100µA講實踐，1mA，10mA營造一處，100 mA4.電流精度±0.1%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)5.電阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻改革創新、電阻率、方阻取得顯著成效、溫度新模式、單位換算、溫度系數(shù)不容忽視、電流組織了、電壓、探針形狀說服力、探針間距搶抓機遇、厚度 、電導(dǎo)率7.測試方式普通單電測量8.工作電源輸入: AC 220V±10% 50Hz 功耗：<30W 9.整機不確定性誤差≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能選購1.pc軟件表示； 選購2.方形探頭全面闡釋； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺