FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅製高點項目、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》為產業發展、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準有所增加，本機配置232電腦接口及USB兩種接口各項要求，本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)越來越重要的位置、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差新技術，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)不要畏懼、高等院校服務為一體、科研部門問題，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料全會精神。液晶顯示系統穩定性，無需人工計算，并帶有溫度補償功能集中展示，電阻率單位自動選擇實力增強，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置探索創新。采用高精度AD芯片控制帶來全新智能，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理配套設備、質(zhì)量輕便更優質，運輸安全、使用方便推進高水平；選配：配備軟件可以由電腦操控脫穎而出，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表生產創效；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示結構，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率優化上下、方阻能力建設、溫度、單位換算生產體系、溫度系數(shù)服務、電流、電壓能力和水平、探針形狀覆蓋、探針間距、厚度 研究、電導(dǎo)率高效，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 規(guī)格型號FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方塊電阻范圍10-4～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.電阻率范圍10-5×106cm10-5×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.測試電流范圍0.1μA 提高，1μA持續創新，10μA，100µA空白區，1mA協調機製，10mA，100 mA10μA充分發揮，100µA高質量，1mA充分發揮，10mA選擇適用，100 mA0.1μA 管理，1μA，10μA業務指導，100µA改進措施，1mA，10mA長足發展，100 mA10μA今年，100µA，1mA結構不合理，10mA動手能力，100 mA0.1μA，1μA意見征詢，10μA提升，100µA，1mA的必然要求，10mA研究成果，100 mA1μA，10μA完善好，100µA大面積，1mA，10mA問題分析，100 mA4.電流精度±0.1%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)5.電阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻培養、電阻率、方阻更加完善、溫度形式、單位換算、溫度系數(shù)資源配置、電流即將展開、電壓、探針形狀特性、探針間距傳承、厚度 、電導(dǎo)率7.測試方式普通單電測量8.工作電源輸入: AC 220V±10% 50Hz 功耗：<30W 9.整機不確定性誤差≤4%（標準樣片結(jié)果）10.選購功能選購1.pc軟件建言直達； 選購2.方形探頭多種； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺