基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像信息、熒光強(qiáng)度掃描成像相關、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng)豐富內涵，提供單分子級(jí)的靈敏度生產效率，檢測(cè)波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)配置范圍：350-1050nm；壽命范圍100ps-100ms適應性；用于化學(xué)節點、納米、能源落地生根、生物等學(xué)科方向的特點，單分子動(dòng)態(tài)、活細(xì)胞有效保障、微區(qū)成像及形貌大數據、能級(jí)結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究，測(cè)試速度高達(dá)5fps（512×512）講實踐，1×1 到 4096×4096成像數字技術，采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī)，批量熒光壽命成像數(shù)據(jù)處理進(jìn)入直讀時(shí)代市場開拓；振鏡掃描適于所有時(shí)間尺度的壽命成像措施。活細(xì)胞工作站要落實好、變溫測(cè)試可選用緊密相關；
主要功能描述：
激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM；
熒光壽命成像FLIM先進技術，磷光壽命成像PLIM培訓；
上轉(zhuǎn)換熒光（壽命）成像，稀土發(fā)光（壽命）成像深入，延遲熒光（壽命）成像問題；
熒光波動(dòng)成像FFS（FCS逐漸顯現，F(xiàn)CCS, PCH，N&B, RICS系統穩定性， FLCS）拓展基地，F(xiàn)LIM-FRET成像；
單量子點(diǎn)發(fā)光（壽命）成像實力增強，單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像體系流動性，包括交替激發(fā)PIE成像；
穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像帶來全新智能；
微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像實現了超越；
反聚束測(cè)試；
Prof. Joseph R. Lakowicz 實(shí)驗(yàn)室選擇的FLIM系統(tǒng)
數(shù)字頻域技術(shù)DFD-FLIM （FastFLIM）和時(shí)域技術(shù)TD-FLIM （TCSPC）成像技術(shù)去完善；
實(shí)時(shí)直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢(shì)橋梁作用，F(xiàn)RET效率分布；
選擇300-1600nm波長(zhǎng)范圍檢測(cè)器求索，2-4通道檢測(cè)器讓人糾結，用于成像，F(xiàn)LIM-FRET穩定發展；
可以升級(jí)無(wú)波長(zhǎng)干擾AFM基石之一，實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測(cè)試；
紫外-可見-紅外激發(fā)波長(zhǎng)增持能力，單波長(zhǎng)或超連續(xù)激光器共同努力；266nm-1300nm激光器可選；PIE功能可選追求卓越；白光激光器可選用逐漸完善；
單光子或雙光子的激光器；
