電子半導(dǎo)體-顯微鏡不溶顆粒檢測(cè)儀 -優(yōu)勢(shì)：
測(cè)試軟件具有操作員管理系統(tǒng)很重要、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、零件測(cè)試模板覆蓋、圖像存儲(chǔ)異常狀況、顆粒追蹤、報(bào)告輸出高效、清潔度分析等功能應用創新；
全面自動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)選擇、顆粒尺寸設(shè)定持續創新、顆粒計(jì)數(shù)改善，或按用戶設(shè)定范圍計(jì)數(shù)空白區，自動(dòng)顯示分析結(jié)果，并按照相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定產(chǎn)品等級(jí)信息化；
將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物形勢；
專業(yè)軟件控制分析過(guò)程，手動(dòng)對(duì)焦取得明顯成效，手動(dòng)光強(qiáng)（顆粒清潔度測(cè)試必須人為干預(yù)進(jìn)行）約定管轄，自動(dòng)掃描，自動(dòng)攝入創新的技術，自動(dòng)分析發揮；
數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；全自動(dòng)膜片掃描系統(tǒng)快速增長，無(wú)縫拼接開放以來，數(shù)字化顯微鏡分析系統(tǒng)；
R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)穩步前行；
顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析結構不合理；
顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；
直觀逐步改善、形象意見征詢、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別大大提高、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)的必然要求、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；
避免激光法的產(chǎn)品缺陷取得了一定進展，擴(kuò)展檢測(cè)范圍完善好；
現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可積極參與；
提供“OIL17服務(wù)星”簽約式服務(wù)問題分析；
電子半導(dǎo)體-顯微鏡不溶顆粒檢測(cè)儀 -應(yīng)用范圍：
電子半導(dǎo)體行業(yè)：CMP Slurry，石墨交流研討、芯片更加完善，晶圓加工等微粒檢測(cè)；
特殊化工行業(yè)：墨水&噴墨建設應用、納米材料十大行動、化工染料、潤(rùn)滑劑背景下、清洗劑綜合措施、有機(jī)液等微粒檢測(cè)；
石化行業(yè)：航空自然條件、航天設計標準、電力開展、石油、化工發揮重要帶動作用、交通發展成就、港口、冶金重要方式、機(jī)械、汽車制造系統、制冷非常重要、電子、工程機(jī)械空間廣闊、液壓系統(tǒng)等領(lǐng)域營造一處；
其他行業(yè)：過(guò)濾產(chǎn)品，清潔度方面知識和技能，食品飲料取得顯著成效，化妝品等微粒檢測(cè)。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
0.1~3000μm的超寬范圍實現、超高分辨率滿足510多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求不容忽視。
可根據(jù)客戶要求，植入相應(yīng)“光阻法顆粒度”測(cè)試和評(píng)判標(biāo)準(zhǔn)服務體系。
技術(shù)參數(shù)：
訂制要求：各類液體檢測(cè)要求說服力；
測(cè)試范圍: 1μm-500μm
放大倍數(shù)：40X～l000X倍
大分辨：0.1μm
顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）
重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）
數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬(wàn)像素
標(biāo)尺刻度：0.1μm
分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑比分布分析、圓形度分布等
自動(dòng)分割速度：< 1秒
分割成功率：> 93%
軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000表示、Windows XP
接口方式：RS232或USB方式
供貨期：30個(gè)工作日
精 確 度：<±3% 典型值；
重合精度：10000粒/mL（5%重合誤差）非常激烈；
鑒定機(jī)構(gòu)：國(guó)家西北計(jì)量測(cè)試中心（民品）
售后服務(wù)：普洛帝中國(guó)服務(wù)中心/普研檢測(cè)競爭力所在。
