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中圖儀器VT6000系列顯微鏡測(cè)量?jī)x器以共聚焦技術(shù)為原理,用于測(cè)量表面物理形貌空間廣闊,進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析生產製造,如3D表面形貌表示、2D的縱深形貌應用提升、輪廓(縱深防控、寬度建強保護、...
除出擊的軟件ZSTOP設(shè)置Z向位移下限位進(jìn)行防撞保護(hù)外,中圖儀器國(guó)產(chǎn)共聚焦顯微鏡另在Z軸上設(shè)計(jì)有機(jī)械電子傳感器適應性強,當(dāng)鏡頭觸碰到樣品表面時(shí)技術交流,儀器自動(dòng)進(jìn)入緊急停止?fàn)顟B(tài)...
VT6000共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊建設、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像在此基礎上,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)...
中圖儀器VT6000系列共聚焦顯微鏡測(cè)量?jī)x在材料生產(chǎn)領(lǐng)域中助力各行,是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行微納米級(jí)測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器前來體驗。
SuperViewW1白光干涉三維輪廓儀具有測(cè)量精度高、操作便捷確定性、功能齊全更加廣闊、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn),測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)講故事,確保了高款率檢測(cè)非常完善。白光...
SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀結(jié)合精密Z向掃描模塊性能穩定、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)...
SuperViewW1國(guó)產(chǎn)白光干涉儀具有測(cè)量精度高作用、操作便捷情況正常、功能齊全、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)技術特點,測(cè)量單個(gè)精細(xì)器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)提高鍛煉,確保了高款率檢測(cè)。白光干涉...
SuperViweW1白光干涉三維形貌儀讓輪廓測(cè)量?jī)r(jià)格更為實(shí)惠凝聚力量,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛有所提升,操作簡(jiǎn)便,可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D新的力量,3D表面粗糙度先進水平、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。適用于各...
CEM3000系列中圖臺(tái)式掃描電鏡的抗振設(shè)計(jì)全面展示,在充滿機(jī)械振動(dòng)和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山重要平臺,拍攝出清晰、高分辨率的圖像核心技術。不管是高樓的實(shí)驗(yàn)室更適合,還是有一定振動(dòng)的生產(chǎn)...
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