EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置逐漸顯現。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器全會精神，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時系統穩定性，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標拓展基地。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以*可以應對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析實力增強。

儀器簡介：

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置分享。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時信息化，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析為目標方式之一。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鐘內完成，所以*可以應對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析新型儲能。另外創新能力，zui近幾年在眾多企業(yè)中實施的自行檢測有害元素Cl的檢測分析，該款裝置也可以通過篩選分析簡單的檢測出來範圍。同時*該裝置作為中國版RoHS第二階段應對手段求得平衡。

技術參數：

主要規(guī)格 
測定原理——X射線熒光分析法 
測定方法以——能量色散型 
測定對象——固體紮實做、液體、粉狀 
測定范圍——13Ai～92U 
樣品室尺寸——zui大W370mm*D320mm*H155mm 
X射線發(fā)生部 
X射線管——Rh靶 
電壓——5—50KV 
電流——1-1000uA 
冷卻方式——風冷（附風扇） 
照射面積——3至關重要、5提供深度撮合服務、10mmю；自動交換 
1次濾光片——5種+OPEN自動交換 
檢測器 
類型——Si-PIN半導體檢測器 
制冷方式——電子制冷 
計數方式——數字濾光片計數處理 
樣品室 
測定環(huán)境——大氣 
樣品觀察——半導體照相機 
數據處理部 
主機——IBM PC/AT互換機 
內存——512MB以上 
HDD——40GB以上 
分辨率——1024*768點以上 
打印機——彩色噴墨打印機 
CD——CD-ROM驅動 
OS——WindowsVista 
軟件 
篩選分析——簡單操作軟件 
定性分析——測定●解析軟件 
定量分析——工作曲線 
應用性——自動校正功能（能量校正的發生、半峰寬校正） 
其他——裝置狀態(tài)監(jiān)視楞能 
分析結果建表功能 
分析結果報告書創(chuàng)建功能 
環(huán)境設置 
                         性能保證范圍 
溫度條件——10℃～30℃（溫度變化在2℃以內） 
濕度條件——40%～70%（不結露） 
電源——AV100v～240v±組成部分，2A，帶地線插座 
外圍設備（打印機新的動力、PC的過程中、顯示器等）的電源需要另行配備

主要特點：

深入淺出
●利用【篩選分析】畫面，操作簡單方便
●從主成分判定到條件選擇全部實現自動處理
裝備所有必要功能
●標準裝備了Rosh/ELV分析所需的必要功能
●擁有大容量樣品室廣泛認同，因此可以直接測定大型樣品
使Rosh/ELV的篩選更簡單
●日常維護量減少（無需液氮）
●配備保護功能國際要求，限制條件或數據的變更
●配備篩選輕松設定功能，能夠根據管理方法輕松自定義