掃描探針顯微鏡(SPM)不僅可以獲得樣品的表面形貌，借助特殊的探針和檢測技術(shù)流動性，還可用以分析與作用力相關(guān)的樣品表面性質(zhì)鍛造。CSPM5500磁力顯微鏡(MFM)可以檢測樣品表面的磁疇分布，用于各種磁性材料的分析和測試持續創新；CSPM5500靜電力顯微鏡(EFM)可以檢測樣品的表面電勢改善、電場分布、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等信息協調機製。

CSPM5500磁力/靜電力顯微鏡（MFM/EFM）原理圖

磁力顯微鏡(MFM)采用磁性探針對樣品表面掃描檢測信息化，檢測時，對樣品表面的每一行都進行兩次掃描：次掃描采用輕敲模式實踐者，得到樣品在這一行的高低起伏并記錄下來充分發揮；然后采用抬起模式，讓磁性探針抬起一定的高度(通常為10～200nm)管理，并按樣品表面起伏軌跡進行第二次掃描設計，由于探針被抬起且按樣品表面起伏軌跡掃描，故第二次掃描過程中針尖不接觸樣品表面（不存在針尖與樣品間原子的短程斥力）且與其保持恒定距離（消除了樣品表面形貌的影響）改進措施，磁性探針因受到的長程磁力的作用而引起的振幅和相位變化就此掀開，因此，將第二次掃描中探針的振幅和相位變化記錄下來今年，就能得到樣品表面漏磁場的精細梯度穩步前行，從而得到樣品的磁疇結(jié)構(gòu)。一般而言，相對于磁性探針的振幅逐步改善，其振動相位對樣品表面磁場變化更敏感意見征詢，因此，相移成像技術(shù)是磁力顯微鏡的重要方法大大提高，其結(jié)果的分辨率更高的必然要求、細節(jié)也更豐富。

抬起模式的原理如下：

1. 在樣品表面掃描取得了一定進展，得到樣品的表面形貌信息完善好，這個過程與在輕敲模式中成像一樣；
2. 探針回到當(dāng)前行掃描的開始點積極參與，增加探針與樣品之間的距離（即抬起一定的高度）問題分析，根據(jù)次掃描得到的樣品形貌，始終保持探針與樣品之間的距離進一步推進，進行第二次掃描導向作用。在這個階段，可以通過探針懸臂振動的振幅和相位的變化應用的選擇，得到相應(yīng)的長程力的圖像十大行動；
3. 在抬起模式中，必須根據(jù)所要測量的力的性質(zhì)選擇相應(yīng)的探針大幅增加。

與其他磁成像技術(shù)比較,磁力顯微鏡(FMF)具有分辨率高特性、可在大氣中工作傳承、不破壞樣品而且不需要特殊的樣品制備等優(yōu)點等特點。

靜電力顯微鏡(EFM)和磁力顯微鏡(MFM)原理相似，它采用導(dǎo)電探針以抬起模式進行掃描多種。

由于樣品上方的電場梯度的存在將進一步，探針與樣品表面電場之間的靜電力會引起探針微懸臂共振頻率的變化，從而導(dǎo)致其振幅和相位的變化發展成就。