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NanoSensors原子力顯微鏡探針

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NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家OladfWolter博士于1991年創(chuàng)建

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NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對(duì)提供高品質(zhì)AFM探針的廠家無障礙。

NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的AFM硅探針連日來,對(duì)世界上許多重大的科學(xué)成果都有著貢獻(xiàn)。在多年間認為,NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù)意向,擴(kuò)展了AFM探針的種類,并獲得多個(gè)國(guó)際獎(jiǎng)項(xiàng)文化價值。

2002年,NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團(tuán)置之不顧,繼續(xù)堅(jiān)持為的科研工作者提供品質(zhì)的AFM探針不斷完善。

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NanoSensors常用的產(chǎn)品

 

PPP-NCHR
輕敲模式/非接觸模式探針,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂方便,共振頻率330kHz基礎上,彈性系數(shù)42N/m,針尖曲率半徑<10nm應用領域,背面鍍鋁反射層保持競爭優勢。

 

 
 
 

PPP-CONTR
接觸模式探針,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂發展機遇,共振頻率13kHz長效機製,彈性系數(shù)0.2N/m,針尖曲率半徑<10nm穩定,背面鍍鋁反射層改造層面。

 

 
 

 

PPP-MFMR
用于磁力顯微鏡測(cè)量,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂優勢與挑戰,共振頻率75kHz經驗分享,彈性系數(shù)2.8N/m,針尖曲率半徑<50nm趨勢,針尖鍍硬磁性材料鍍層有力扭轉。

 

 
 

NanoSensors產(chǎn)品概覽

PointProbe Plus (PPP)系列 常用探針

PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針,適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM一站式服務。

PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm廣度和深度,可實(shí)現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。 


SuperSharp Silicon (SSS)系列 超尖探針

SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn)顯示,專門為超高分辨的成像所設(shè)計(jì)雙向互動。

SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm,實(shí)現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用設計能力。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性品牌。 


High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列

高長(zhǎng)徑比探針

AR系列探針專門為測(cè)量具有大長(zhǎng)徑比或垂直臺(tái)階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計(jì)。

AR系列探針具有接近垂直的針尖更為一致,總體針尖長(zhǎng)度達(dá)到10-15um等形式,針尖的曲率半徑小于5度(AR10小于2.8度)。 


Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列 金剛石鍍層探針

DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況研究與應用,同樣也應(yīng)用于摩擦力測(cè)量飛躍、樣品彈性測(cè)量等。


MFM 磁力顯微鏡探針

多種規(guī)格(硬磁或軟磁)的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計(jì)全面協議。所有探針的磁性鍍層重要部署,均具有的穩(wěn)定性。


Carbon Nanotube (CNT)系列 碳納米管探針

Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率工具、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計(jì)的智慧與合力。

碳納米管探針使用化學(xué)沉積的方法,在PPP系列針尖的處重要的角色,生長(zhǎng)出碳納米管開放要求,從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長(zhǎng)徑比及的耐磨性平臺建設。CNT系列在NanoSensors的全部探針中記得牢,能獲得的分辨率。


AdvancedTEC (ATEC)系列

AdvancedTEC系列探針重要的作用,在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖更多可能性。這種的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針,從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位積極回應。


Plateau (PL)系列

Plateau系列探針重要性,使用離子束切割技術(shù),將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍多種場景,在針尖處形成一個(gè)直徑為1.8μm的圓形平臺(tái)多元化服務體系,為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的探針。


Transfer Standards /Calibration Standards 標(biāo)準(zhǔn)樣品

NanoSensors提供的高精度標(biāo)準(zhǔn)樣品包括:

1. 二維正交標(biāo)準(zhǔn)樣品:周期分別為100nm擴大公共數據、200nm和300nm深度。

2. 高度標(biāo)準(zhǔn)樣品:臺(tái)階高度為8nm。

3. 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣品:100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm核心技術體系。  



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