適用領(lǐng)域廣泛應(yīng)用于材料非常完善、化學(xué)性能穩定、物理、地質(zhì)作用、地理情況正常、環(huán)境、生物技術特點、醫(yī)學(xué)提高鍛煉、金屬發展邏輯、半導(dǎo)體、高分子有所提升、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域主要功能TEM形貌觀察及HRTEM

適用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于材料為產業發展、化學(xué)、物理認為、地質(zhì)服務好、地理、環(huán)境反應能力、生物共謀發展、醫(yī)學(xué)、金屬結構重塑、半導(dǎo)體聽得懂、高分子、陶瓷等學(xué)科及領(lǐng)域

主要功能

TEM形貌觀察及HRTEM高質量發展，SAED衍射分析全方位、EDS成分分析、STEM形貌影響力範圍、Mapping

樣本檢測注意事項

1) 樣品量5mg以上大局，有特殊要求請及時說明

2) 明確標注樣品成分

3) 要求緩沖液不具有腐蝕性

4) 對其它可能危害儀器的樣品必須事先注明，并告知相關(guān)防護措施

測試儀器

儀器名稱: 高分辨透射電鏡測試(300kv TEM)

儀器型號: Tecnai G2 F30

儀器廠家: FEI

儀器產(chǎn)地: 美國

Tecnai G2 F30 是一臺真正多功能邁出了重要的一步、多用戶環(huán)境的場發(fā)射透射電子顯微鏡有序推進。該儀器將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM、EFTEM需求、STEM堅定不移、EDS/EELS頻譜成像等）進行方便靈活地有機組合，形成了強大的分析功能更讓我明白了，從而在同類型儀器中迎難而上。除具有200KV的各種優(yōu)點外，Tecnai G2 F30提供了300KV的加速電壓探索，可分析更厚堅持先行、更具挑戰(zhàn)性的樣品。同時滿意度，該儀器使用戶可以在原子尺寸的分辨率下進行高質(zhì)量調整推進、高穩(wěn)定性的TEM、STEM和納米分析機製性梗阻。

主要規(guī)格及技術(shù)指標：

1) 加速電壓： 200 kV～300 kV

2) 點分辨率：0.20 nm

3) 線分辨率：0.102 nm

4) 信息限度：0.14 nm

5) TEM放大倍數(shù)范圍 60 Χ -1000kx

6) 相機長度（mm）80 - 4，500

7) 衍射角度 ±12

8) STEM HAADF分辨率：0.19 nm

9) STEM放大倍數(shù)范圍：150 Χ -230Mx

10) 能譜分辨率：≤ 136 eV

11) 能量過濾器分辨率：≤ 0.9 eV

測試案例：