原理
X射線光電子能譜（XPS）系列，基于光電離作用，當(dāng)一束光子輻射到樣品表面時(shí)相互配合，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收慢體驗，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的動(dòng)能從原子內(nèi)部發(fā)射出來智能化，變成自由的光電子科技實力，而原子本身則變成一個(gè)激發(fā)態(tài)的離子。當(dāng)固定激發(fā)源能量時(shí)建設，其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān)在此基礎上，由此根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。經(jīng)X射線輻照后前來體驗，從樣品表面射出的光電子的強(qiáng)度與樣品中該原子的濃度呈線性關(guān)系自主研發，可以進(jìn)一步進(jìn)行元素的半定量分析。另外，XPS的重要應(yīng)用是對(duì)元素的化學(xué)價(jià)態(tài)進(jìn)行分析。
X-射線光電子能譜儀應用提升，是一種表面分析技術(shù)，主要用來表征材料表面元素及其化學(xué)狀態(tài)性能穩定。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV作用，與樣品表面相互作用情況正常，利用光電效應(yīng)，激發(fā)樣品表面發(fā)射光電子技術特點，利用能量分析器提高鍛煉，測量光電子動(dòng)能(K.E)數據顯示，根據(jù)B.E=hv-K.E-W.F，進(jìn)而得到激發(fā)電子的結(jié)合能（B.E)也逐步提升。
儀器技術(shù)參數(shù)
1 極限能量分辨率為0.43eV;
2 分析室真空度優(yōu)于5×10-10 mbar;
3 能量分析范圍為0-5000eV;
4 通過能范圍為1-400eV更多的合作機會；
5 固體樣品的表面成分分析、化學(xué)態(tài)分析認為，取樣深度一般約為1-10nm,其中金屬材料為0.5-3nm服務好，無機(jī)材料2-4nm，有機(jī)高聚物5-10nm反應能力。
檢測項(xiàng)目
在化學(xué)共謀發展、材料科學(xué)及表面科學(xué)中具有廣泛的應(yīng)用價(jià)值。
為有機(jī)化合物結(jié)構(gòu)分析提供信息結構重塑，配合進(jìn)行化合物定性定量分析聽得懂，廣泛應(yīng)用于有機(jī)化合物、農(nóng)藥高質量發展、及生物大分子結(jié)構(gòu)與性能研究全方位。主要應(yīng)用于有機(jī)化合物的結(jié)構(gòu)分析；化工產(chǎn)品分析影響力範圍；工業(yè)助劑分析大局；有機(jī)成份分析等。
送樣要求：
1.粉末測試需要量一般不小于0.2 毫升或者10毫克邁出了重要的一步，樣品需干燥;
2.固體樣品尺寸塊狀5*5mm有序推進，厚度盡量低于4mm，表面須平整需求，樣品需干燥;
3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜堅定不移，一般重復(fù)3-5次烘干滴液差不多即可測不到基底;
4.材料必須是無放射性、無毒性更讓我明白了、無揮發(fā)性物質(zhì)(如單質(zhì)Na, K, S, P, Zn, Se, As, I, Te, Hg等);
5.磁性樣品(可以測試)請(qǐng)送樣時(shí)告知;
6. 元素窄譜如果有特殊要求請(qǐng)備注迎難而上，如果沒有特殊說明，默認(rèn)測試峰充分，如果峰和其他元素的峰有重疊進一步完善，默認(rèn)測試次強(qiáng)峰集聚。
7. 小于1%的元素可能測不出明顯信號(hào)競爭力；
常見圖譜：
