鍍層測(cè)厚儀MAXXI 6提供高性能越來越重要的位置、快速可靠無損的鍍層厚度測(cè)量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)共同學習。

• 高分辨率的硅漂移器（SDD）

• 開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)

• 8個(gè)準(zhǔn)直器

• USB接口與計(jì)算機(jī)連接

        我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)順滑地配合，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作效高、快速和無損的分析前沿技術。

        鍍層測(cè)厚儀 MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙，針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品性能，具有的解決方案多種方式。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U新創新即將到來。

 

亮點(diǎn)

• 采用微聚焦X射線光管邁出了重要的一步，實(shí)現(xiàn)高精度、高可靠性設施、測(cè)量時(shí)間短需求、購置成本低

• 采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器（SDD），提供能量級(jí)別的效率組合運用，極低的檢出限（LOD）

• 多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額更讓我明白了，提高測(cè)量效率

• 開槽式超大樣品艙設(shè)計(jì)，十分適合電路板或其他超大平板樣品

• “USB接口”只需通過USB與計(jì)算機(jī)連接積極，無需額外的硬件或軟件

• 德國制造探索，符合工程標(biāo)準(zhǔn)，堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期可靠性

• 通過PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認(rèn)證產業，滿足輻射安全標(biāo)準(zhǔn)

性能及符合性

• 最多同時(shí)測(cè)定5層滿意度，15種元素及共存元素的校正

• 同時(shí)實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析

• 檢測(cè)方法通過ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認(rèn)證

開槽式大樣品臺(tái)

• 可編程的XY樣品臺(tái)

• 樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm

• 創(chuàng)新的防撞設(shè)計(jì)

可編程的樣品臺(tái)

• 預(yù)定位激光技術(shù)

• 的樣品臺(tái)行程范圍及速度

• 自動(dòng)測(cè)量 

 

軟件及校準(zhǔn)

• 基于WindowsTM 7操作系統(tǒng)情況較常見，直觀的軟件MaxxControl

• 選擇經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確性或選擇FP無標(biāo)樣模式以輕松實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)

• 成分分析：可自由選擇元素；厚度測(cè)量：可自定義鍍層結(jié)構(gòu)

• 對(duì)RoHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)（可選）