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非接觸式金屬膜厚測量儀

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非接觸式金屬膜厚測量儀昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCusTFSeries能運用,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量達到,對導電薄膜的膜厚精確測量,表征已被隱藏和封裝的導電層不可缺少,并把測量數(shù)據(jù)保存和導出

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非接觸式金屬膜厚測量儀


昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series蓬勃發展,這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實時測量,對導電薄膜的膜厚精確測量積極回應,表征已被隱藏和封裝的導電層重要性,并把測量數(shù)據(jù)保存和導出。


非接觸式金屬膜厚測量儀主要測試對象:

  • 鍍膜建筑玻璃多種場景,如LowE

  • 顯示器多元化服務體系,觸摸屏和平板顯示器

  • OLED和LED

  • 智能玻璃

  • 石墨烯層

  • 光伏晶圓和電池

  • 半導體晶片

  • 金屬化層和晶圓金屬化

  • 電池電極

  • 導電涂布紙和導電紡織品


單點金屬膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT


單點金屬膜厚測量儀EddyCus TF lab 2020MT可以對透明和非透明層的非接觸金屬厚度進行測量。測量是通過非接觸式渦流傳感器實現(xiàn)的擴大公共數據。它可以實時地對已知或確切的常數(shù)電導率的材料的進行厚度測量深度。這種非接觸測試技術(shù)能夠在較寬的厚度范圍內(nèi)進行精確測量,從幾納米厚度開始核心技術體系,一直到厚金屬板的表征開拓創新。電渦流技術(shù)還能夠?qū)Ρ挥泻Σ牧细采w的金屬層進行表征。單點金屬膜厚測量儀也可以為非常薄的膜層以及非常厚的金屬和普通合金提供特定的材料設(shè)置必然趨勢。該測量方法具有的魯棒性和高重復性和高精度高效。此外,它不需要任何光學透明度要素配置改革,也不用物理接觸體系。

軟件和設(shè)備控制:

  • 非常用戶友好的軟件

  • 直觀的觸摸顯示導航

  • 實時測量板材電阻和層厚

  • 軟件輔助手動映射選項

  • 各種數(shù)據(jù)保存和導出選項


非接觸式金屬膜厚測量儀規(guī)格參數(shù):

Measurement technologyNon-contact eddy current sensor
SubstratesFoil, glass, wafer, etc.
Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)
Max. sample thickness/ sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)
Metal thickness range
Accuracies depend on the selected setup and the type /
conductivity of the metal (e.g. copper, aluminum, silver)
Low             1 – 10 nm; 2 – 5 % accuracy
Standard    10 – 1,000 nm; 1 – 3 % accuracy
High            1 – 100 µm; 0.5 – 3 % accuracy
Metal thickness calibrationDirect thickness calibration / sheet resistance conversion
Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mm
Weight10 kg
Further available features / other tool configurationsSheet resistance measurement / conductivity / resistivity / electrical anisotropy / permeability (beta)


非接觸式金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT

    

非接觸式金屬膜厚成像測量儀EddyCus TF map 2530MT是一種非接觸式厚度成像系統(tǒng)。這款金屬膜厚成像設(shè)備利用非接觸式渦流傳感器來確定任何已知電導率或特征電導率剖面帶動產業發展,如金屬或合金材料的厚度責任製。這種非接觸式測試技術(shù)可以在較寬的厚度范圍內(nèi)進行精確測量,厚度范圍從幾納米到毫米倍增效應。此外規則製定,它還可以應(yīng)用于非導電材料封裝的薄膜。該測量方法具有良好的魯棒性和較高的重復性和精度優化服務策略。它不受光學特性的影響關規定,有利于各種生產(chǎn)非透明金屬薄膜的行業(yè)。這種緊湊的臺式系統(tǒng)用于制造研發(fā)和測試實驗室的快速測試或系統(tǒng)質(zhì)量保證的廣泛應(yīng)用兩個角度入手。

軟件和設(shè)備控制:

  • 非常用戶友好的軟件

  • 實時映射測量

  • 易于使用的統(tǒng)計分析選項

  • 預定義的測量和產(chǎn)品配方(尺寸建強保護、音高、閾值)

  • 直線掃描生產效率,直方圖和區(qū)域分析

  • 黑色和彩色圖像編碼

  • Csv & PDF導出

  • PC匯總導出

  • 用于參數(shù)轉(zhuǎn)換的材料數(shù)據(jù)庫

  • 邊緣效應(yīng)的補償

  • 數(shù)據(jù)的存儲和導入

  • 導出數(shù)據(jù)集(如eddyva, MS Excel, Origin)

非接觸式金屬膜厚測量儀規(guī)格參數(shù):

Measurement technologyNon-contact eddy current sensor
SubstratesWafer, glass, foil, etc.
Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)
Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements) 
Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)
Metal thickness range
Accuracies depend on the selected setup and the type /
conductivity of the metal (e.g. copper, aluminum, silver)
Low             1 – 10 nm; 2 – 5 % accuracy
Standard    10 – 1,000 nm; 1 – 3 % accuracy
High            1 – 100 µm; 0.5 – 3 % accuracy
Metal thickness calibrationDirect thickness calibration / sheet resistance conversion
Sheet resistance range (optional)0.1 mOhm/sq – 100,000 Ohm/sq (in 5 ranges)
Scanning pitch (X and Y)1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm 
Scanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1.5 to 15 minutes (1 – 10 mm pitch)
12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 15 minutes (2.5 – 25 mm pitch)
Device dimensions (w/h/d) / weight31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mm / 90 kg
Further available features / other tool configurationsSheet resistance measurement / conductivity / resistivity / anisotropy / permeability (beta)


手持式金屬膜厚測量儀EddyCus TF portable1010

手持式金屬膜厚測量儀EddyCus TF portable1010一種方便和便攜的測量設(shè)備使命責任,用于生產(chǎn)或現(xiàn)場的大型玻璃和金屬箔的快速接觸測量效果,例如在制造后的快速質(zhì)量檢查或作為來料良好的檢查。手持設(shè)備允許測量甚至隱藏和封裝層合規意識。這是一個易于使用的設(shè)備密度增加,通過觸摸顯示器控制。

  • 手工質(zhì)量控制創新內容,進料檢驗機遇與挑戰,出料檢驗

  • 導電材料的接觸表征

  • 單點接觸測量(要求恒距離測量)

  • 150 x 150毫米的平面表面(50 x 50毫米和100 x 100毫米可選)


Measurement technologyEddy current sensor
Measurement modeRealtime at constant distance / contact
SubstratesGlass, plates, foils etc.
Substrate sizesFlat samples > 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch) Curved editions are available for several applications
Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)
PowerLithium ion battery up to 20 h
Metal thickness range (four setups available)

very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sq
Type low: 0.04 – 0.1 Ohm/sq
Type standard: 0.3 – 30 Ohm/sq
Type high: 0.3 – 50 Ohm/sq

Range depends on material conductivity. Examples:

CuAlAgTi0.17 – 17 µm0.27 – 27 µm0.16 – 15 µm5.5 – 550 µm170 – 425 nm270 – 675 nm155 – 380 nm5.5 – 13 nm0.6 – 56 nm0.9 – 90 nm0.5 – 50 nm0.018 – 1.85 µm0.4 – 56 nm0.6 – 90 nm0.3 – 50 nm0.013 – 1.85 µm

 

Sheet resistance measurementAvailable as additional feature, 5 ranges are available between 0.001 to 100 Ohm/sq
Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass) <>
Dlay2.8 inch colored touch screen
Device dimensions (w/h/d) @ weight3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mm @ 340g
InterfacesBluetooth (optional) + data center


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關(guān)于昊量光電:

上海昊量光電設(shè)備有限公司是光電產(chǎn)品專業(yè)代理商,產(chǎn)品包括各類激光器善於監督、光電調(diào)制器提單產、光學測量設(shè)備、光學元件等至關重要,涉及應(yīng)用涵蓋了材料加工發展空間、光通訊、生物醫(yī)療有所應、科學研究足了準備、國防、敢於監督、生物顯微幅度、物聯(lián)傳感、激光制造等重要的作用;可為客戶提供完整的設(shè)備安裝貢獻,培訓,硬件開發(fā)穩中求進,軟件開發(fā)統籌,系統(tǒng)集成等服務(wù)。

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