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簡(jiǎn)介：白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析研究。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面高效，探頭同位接收反射光線。

簡(jiǎn)介：TF200白光干涉測(cè)厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理提高，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析機構。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線交流。TF200根據(jù)反射回來(lái)的干涉光基礎，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速...

簡(jiǎn)介：設(shè)備亮點(diǎn)1、探頭采用美國(guó)進(jìn)口的探頭還不大，穩(wěn)定高產、可靠、精度高

簡(jiǎn)介：MarSurfWI系列是Mahr研發(fā)光學(xué)3D表面輪廓儀產(chǎn)品發揮作用，是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器

簡(jiǎn)介：Profilm3D/Profilm3D-200價(jià)格合理良好、的光學(xué)輪廓儀

簡(jiǎn)介：白光干涉儀是一種對(duì)光在兩個(gè)不同表面反射后形成的干涉條紋進(jìn)行分析的儀器

簡(jiǎn)介：產(chǎn)品簡(jiǎn)介DCM8光學(xué)表面測(cè)量系統(tǒng)-3d形貌測(cè)量顯微鏡什么是3d形貌測(cè)量顯微鏡？3D形貌顯微鏡是一種用于材料科學(xué)銘記囑托、機(jī)械工程領(lǐng)域的分析儀器引領，具有圖像快速處理、分析和測(cè)量功能試驗，可提供高襯度勞動精神、高分辨率、大...

簡(jiǎn)介：SuperViewW1國(guó)產(chǎn)3D白光干涉儀結(jié)合精密Z向掃描模塊結構不合理、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像動手能力，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的...

簡(jiǎn)介：SuperViewW1白光干涉三維光學(xué)輪廓儀分辨率0.1μm意見征詢，重復(fù)性0.1%提升，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛，操作簡(jiǎn)便的必然要求，可自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D研究成果，3D表面粗糙度取得了一定進展、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)，適用于各種產(chǎn)品大面積、部件和材料表面...

簡(jiǎn)介：SuperViewW1中圖白光干涉儀采用的是非接觸式光學(xué)測(cè)量積極參與，在獲得實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的同時(shí)，不會(huì)對(duì)產(chǎn)品造成任何損傷培養，從而有效節(jié)約了生產(chǎn)成本交流研討，提高了生產(chǎn)效率，并且在線檢測(cè)形式，沒有滯后性建設應用，從而減少不合格品，對(duì)表...