德國費希爾x射線熒光測厚儀XDL230
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀實現了超越。它非常適用于無損測量鍍層厚度新產品、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層相對開放。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀推進高水平。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析拓展應用，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層生產創效。XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器管理。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率優化上下，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法模樣，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品生產體系，儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制很重要、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控能力和水平。

德國費希爾x射線熒光測厚儀XDL230?主要特征
帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。
*高工作條件:50KV,50W
射線探測器采用比例接收器
準(zhǔn)直器：固定或4個自動切換異常狀況，0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本濾片：固定或3個自動切換
測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
固定樣品支撐臺 研究，手動XY工作臺
攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
設(shè)計獲得許可應用創新，防護全面提高，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

德國費希爾x射線熒光測厚儀XDL230?設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器穩步前行。手動操作的X-Y工作臺結構不合理，馬達(dá)驅(qū)動的Z軸系統(tǒng)。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能逐步改善，可以精確定位測量位置意見征詢。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度大大提高。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計的必然要求，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板取得了一定進展。帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放完善好，并且允許測量點的精確調(diào)整。所有的儀器操作積極參與，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示問題分析，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成。XDL型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器交流研討，型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定更加完善。