具采用的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)和OPI水平觀測(cè)等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測(cè)時(shí)尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)相關性，有高靈敏度完成的事情、高精度以及波長(zhǎng)范圍寬（130nm-770nm)等特性，在ICP-OES 領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用穩定，可分析包括ppm級(jí)鹵素在內(nèi)的73個(gè)金屬和非金屬元素改造層面。

儀器簡(jiǎn)介：
具采用的密封充氣紫外光學(xué)系統(tǒng)和OPI水平觀測(cè)等離子光學(xué)接口完成消除水平觀測(cè)時(shí)尾焰的影響、全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù)效高化，有高靈敏度新體系、高精度以及波長(zhǎng)范圍寬（130nm-770nm）等特性，在ICP-OES 領(lǐng)域開拓了全新的應(yīng)用創造，可分析包括ppm級(jí)鹵素在內(nèi)的73個(gè)金屬和非金屬元素不難發現。

技術(shù)參數(shù)：
革命性的全新設(shè)計(jì)，真正的全譜直讀ＴO備製造“l展需要！

1.光譜范圍130－770nm
2.三光柵:3600線/mm（2個(gè)）,1800線/mm（1個(gè)）
3.動(dòng)態(tài)范圍大于等于8個(gè)數(shù)量級(jí)
4.可在30秒內(nèi)完成73個(gè)元素的全譜定量測(cè)試，分析速度:>=60個(gè)樣品/小時(shí)
5.zui短積分時(shí)間0.1ms,可與HPLC/GC聯(lián)機(jī)使用


主要特點(diǎn)：
1.一維色散＋32個(gè)CCD檢測(cè)器設(shè)計(jì)管理，檢測(cè)器無需超低溫冷卻顯示，無需氬氣吹掃保護(hù)
2.全波長(zhǎng)覆蓋，*為130－770nm的波長(zhǎng)范圍效率和安，*可以分析ppm級(jí)鹵素
3.密閉充氬循環(huán)光路系統(tǒng)設計能力，檢測(cè)190nm以下譜線，無需氣體吹掃
4.3秒實(shí)現(xiàn)真正全譜數(shù)據(jù)采集深入開展，分析速度zui快
5.所有氣體流量采用質(zhì)量流量計(jì)計(jì)算機(jī)控制提供有力支撐，矩管位置3維步進(jìn)馬達(dá)計(jì)算機(jī)控制自動(dòng)化程度高