ELEMENT 等離子發(fā)射光譜儀
ELEMENT 系列 ICP-MS
您可以從兩種高性能像一棵樹，雙聚焦扇形磁場(chǎng) Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 儀器中選擇過程中，這些儀器針對(duì)易用性、穩(wěn)定性和分析效率進(jìn)行了優(yōu)化能運用。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供強(qiáng)大的技術(shù)來(lái)解決特定問題達到，同時(shí)具備優(yōu)異的靈敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 結(jié)合法拉第檢測(cè)器與雙模式 SEM 檢測(cè)器將 ELEMENT 2 ICP-MS 的線性動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展了三個(gè)數(shù)量級(jí)不可缺少。
描述
在痕量元素定量分析方面蓬勃發展，ICP-MS 嚴(yán)重的限制是對(duì)元素信號(hào)的多原子干擾。高質(zhì)量數(shù)分辨率是消除這些干擾的金標(biāo)準(zhǔn)積極回應，可在痕量水平上準(zhǔn)確可靠地進(jìn)行多元素定量分析重要性，樣品制備步驟極為簡(jiǎn)便。
多元素分析
多元素檢測(cè)器可處理瞬變信號(hào)多種場景，包括 HPLC多元化服務體系、GC 和激光消融。
元素周期表中的無(wú)干擾測(cè)量涵蓋基質(zhì)組分（mg?L-1）和超痕量元素（低于 1 pg?L-1）擴大公共數據。
較高靈敏度 ICP-MS（低分辨率時(shí)）深度。
靈活性和可用性
高質(zhì)量數(shù)分辨率可獲取譜干擾同位素，生成清晰的元素譜
對(duì)無(wú)干擾或受干擾同位素進(jìn)行高精度同位素比分析更加堅強。
熱等離子體和冷等離子體狀態(tài)與時俱進。
ELEMENT XR ICP-MS
寬線性動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍對(duì)于 ICP-MS 來(lái)說(shuō)至關(guān)重要，因?yàn)槠湓试S通過單次運(yùn)行分析較寬的濃度范圍初步建立。
集成式法拉第檢測(cè)器的特性：
采樣時(shí)間低至 1 ms高效。
測(cè)量高強(qiáng)度峰后無(wú)需衰減時(shí)間
SEM 和法拉第之間自動(dòng)切換溝通協調，延遲時(shí)間為 <1 ms。
不同檢測(cè)器模式之間的線性交叉范圍較寬（>2 個(gè)數(shù)量級(jí)）體系，允許準(zhǔn)確進(jìn)行自動(dòng)交叉校正保障性。
動(dòng)態(tài)范圍為 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。
標(biāo)簽：ELEMENT 等離子發(fā)射光譜儀
