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顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)敢於挑戰,具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式積極,形成了較小的收光面探索;除此之外,視野+成像+收光+物面的共軛產業,可使觀察和測試同時進行滿意度。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡,滿足客戶對顯微鏡的不同需求可持續。

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MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)主要抓手,具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式服務,形成了較小的收光面很重要;除此之外,視野+成像+收光+物面的共軛覆蓋,可使觀察和測試同時進行異常狀況。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡,滿足客戶對顯微鏡的不同需求高效。


成像照片


下圖為使用10X物鏡對50um小孔進行透射率測量時的聚焦和實測畫面應用創新。

實測圖譜

系統(tǒng)參數(shù)

型號

MicroTEQ-B1

光譜儀

可根據(jù)情況自行選配

顯微反射測量模塊

兼容大部分主流顯微鏡

尺寸

220x172x68 mm

重量

2.8 kg

支持波段

400-700 nm

反射照明zui大支持相機尺寸

1/2”

測量光斑

  1. 10 um @ 10x 物鏡 @ 100 um 光纖

  1. 50 um @ 10x 物鏡 @ 500 um 光纖



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