PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射非常重要、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光空間廣闊、反射光營造一處、透射光的光譜圖。
產(chǎn)地： 美國

用途：

PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射知識和技能、反射和透射光譜取得顯著成效，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光實現、透射光的光譜圖不容忽視。

特點：        

便攜堅固的鋁制外殼設計        

APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的精確測量        

在標定的測量范圍300—1000nm((NIST 可追溯性)內(nèi)分辨率小于1nm

標準軟件特征：    

   發(fā)光測量：測量以瓦特每平方米每納米或摩爾每平方米每秒每納米為單位的可能性；同時顯示完整的PPF值不要畏懼。
   照明度測量：測量以流明每平方米每納米或尺燭光每平方英尺為單位；同時顯示完整的LUX值問題。
   CIE應用：系統(tǒng)顯示CIE制定的1931年X逐漸顯現、Y色度圖。照明模式下顯示占有優(yōu)勢的波長和純度系統穩定性，發(fā)光模式下顯示顏色溫度拓展基地。
   分光比色計：測量反射光線的顏色。同時系統(tǒng)會顯示非自照明的顏色空間圖表作為參照實力增強，圖表對色彩濃度體系流動性、色差、X帶來全新智能、Y實現了超越、三基色和Delta-E等做了色彩評估和說明，并提供新的Delta-E色彩對比表去完善。
   化學成分測量：測量化學成分的濃度橋梁作用。同時系統(tǒng)會顯示濃度標度，或者將之前已經(jīng)測量好的化學成分濃度與未知的樣品做對比求索。
   UV測量：測量UV能量分布狀態(tài)讓人糾結。將UVA、UVB穩定發展、UVC至關重要、UVA/UVB比率等以瓦特為單位繪制線形圖；提供紅斑和黑素原發(fā)生作用的最大時間。

技術規(guī)格：

產(chǎn)地：美國