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參考價 | 面議 |
- 公司名稱 倍迎電子科技(上海)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 上海市
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2020/9/15 11:35:09
- 訪問次數(shù) 599
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美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀用XOS高清晰光譜技術(shù),測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素更加廣闊,可測量出微量成份損耗。HD Prime分析儀采用光學(xué)分析技術(shù),可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份非常完善。這種分析技術(shù)可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量性能穩定。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面,既能快速定性檢測緊密協作,又能定量分析工藝技術。性能價格比高效率。
1. XOS 公司介紹:
◆ XOS® (X-Ray Optical Systems, Inc. X射線光學(xué)系統(tǒng)公司) 總部位于美國紐約州*Albany, 為丹納赫水質(zhì)平臺子公司規模。
◆ XOS®是一家應(yīng)用材料和元素分析設(shè)備供應(yīng)商近年來,為重視控制材料質(zhì)量與性能的行業(yè)監(jiān)管部門和客戶提供擁有技術(shù)的分析設(shè)備。
◆ XOS公司擁有的研發(fā)和設(shè)計能力發展目標奮鬥,與美國的眾多研究機構(gòu)有合作關(guān)系,曾經(jīng)參與了許多課題設(shè)計,包括美國宇航局的行星元素探測計劃(XRF方法)等堅定不移。
◆ XOS擁有X射線光學(xué)技術(shù)實際需求,能夠幫助客戶將測量靈敏性提高百倍,減少測量時間新趨勢,提高空間分辨率反應能力,縮小設(shè)備尺寸,并且節(jié)約設(shè)備成本學習。
◆ XOS公司的光學(xué)晶體應(yīng)用于大型波長色散型XRF結構重塑、微區(qū)聚焦XRF、掃描電鏡等X射線儀器應用優勢。XOS公司與其他著名的XRF生產(chǎn)廠商都有合作高質量發展,提供給它們光學(xué)聚焦晶體。
◆ XOS公司具備HDXRF的技術(shù)——DCC高效節能,也是目前一家擁有自己技術(shù)的XRF生產(chǎn)廠商影響力範圍,其他品牌XRF的核心部件——X光管、濾光片新創新即將到來、準(zhǔn)直器等均為外購邁出了重要的一步。
◆ XOS公司在元素分析領(lǐng)域有著技術(shù)應(yīng)用,XOS公司與美國NASA下屬的JPL實驗室合作設施,研發(fā)了一款用于2020火星計劃的XRF元素分析儀
2. 主要技術(shù)參數(shù)和優(yōu)點:
1) 采用DCC®(雙曲面彎晶技術(shù))發展的關鍵,取代傳統(tǒng)的濾光片和準(zhǔn)直器,真正實現(xiàn)單色光激發(fā)樣品規模設備;
2) 檢測光斑1mm真諦所在,適合測試不規(guī)則樣品和細(xì)小樣品;
3) 采用SDD硅漂移探測器競爭力,分辨率高充分,無需液氮冷卻;
4) 滿足美國ASTM F2853標(biāo)準(zhǔn)集聚;
5) 可同時測試涂層與基材中的重金屬含量關註度;
6) 采用基本參數(shù)法,可分析各類未知樣品哪些領域;等等
美國XOS HD-Prime 臺式X射線熒光光譜儀
用于玩具和兒童用品
HD Prime用XOS*的高清晰光譜技術(shù)敢於挑戰,測量玩具和兒童用品中的鉛以及其他有毒元素,可測量出微量成份建立和完善。HD Prime分析儀采用光學(xué)分析技術(shù)提供了遵循,可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份參與水平。這種分析技術(shù)可測量目前和將來由CPSIA規(guī)定的含量。HD Prime分析儀有用戶滿意的界面服務效率,既能快速定性檢測明確相關要求,又能定量分析。性能價格比高統籌發展。測量是非破壞性的深化涉外,不需要費錢耗時的樣品準(zhǔn)備,而且不會損壞被測商品生產製造,已備復(fù)查開展試點。高清晰光譜儀使負(fù)責(zé)產(chǎn)品安全的行業(yè)和政府管理部門能夠快速、方便地檢測產(chǎn)品共同。
檢測鉛和其它有毒元素
應(yīng)用領(lǐng)域
•玩具和兒童用品中多種有毒元素測量進一步,符合CPSIA規(guī)定的要求
•快速定性定量分析有毒元素
•使用場合:工廠的生長線上和實驗室、第三方檢測實驗室強大的功能、零售商實際需求、檢測部門
•符合ASTM F2853和F2617標(biāo)準(zhǔn)
性能和特點
•測定有毒元素(Pb,Sb優勢,As善謀新篇,Ba,Cd便利性,Cr方法,Hg,Se提供有力支撐,Br切實把製度,and CI)
•HD Prime 可分別測出產(chǎn)品基材和涂層中有毒元素的成份
•1mm小面積分析,能檢測不規(guī)則形狀
•使用方便自行開發,可供工廠進行部署、實驗室使用,2小時培訓(xùn)
•不需要樣品準(zhǔn)備:無須剝離和浸煮涂層自動化裝置,從而不破壞產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
•定性檢測模式:提供有毒元素快速檢測
•定量檢測模式:確定涂層和基底材料中元素成份
產(chǎn)品規(guī)格 | 元素 | Pb示範,Sb,As有很大提升空間,Ba運行好,Cd,Cr可能性更大,Hg部署安排,Se,Br技術,Cl |
分析范圍 | 小于5000ppm | |
分析模型 | 定性模式:快速檢測元素的存在 定量模式:確定元素成份 | |
一次測量可同時得到涂層和基底中的元素成份并分別記錄 | ||
定性測量時間只測基底 | 塑料推廣開來,木頭推動,橡膠,皮革重要的,織物開展研究,濕涂料未~2min 金屬為~3min | |
定量測量時間涂層 | ~5min | |
測量面積 | 直徑1mm | |
環(huán)境溫度 | 5-35°C | |
相對濕度 | 80%max | |
功率要求 | 90~264VAC,47~63Hz | |
光管電壓 | 50kVmax | |
系統(tǒng)功耗 | 200W max | |
結(jié)構(gòu) | 分析儀尺寸 | H:812mm.W:914mm. D:660mm(32”×36”×26”) |
樣品室尺寸 | H:560mm.W:851mm. D:582mm (22”×33.5”×23”) | |
分析儀重量 | 110kg(240Ibs) | |
數(shù)據(jù)輸出 | 硬盤存儲 為LIMS連接USB輸出接口 | |
攝像頭 | 一個攝像頭:樣品的大視角成像 另一攝像頭:分析面積的近視角成像 | |
操作 系統(tǒng) | 視窗系統(tǒng) | |
探測面積選擇 | 激光對中 | |
用戶界面 | 材料選擇 | 塑料姿勢,金屬相互融合,木頭,玻璃綠色化,橡膠不同需求,皮革,織物 |
量化:測試結(jié)果 | 基底中的成份單位是ppm(wt)保持穩定,用顏色塊表示是否通過涂層中成份單位是ppm(wt)和ug/cm2 總之,用顏色塊表示是否通過 包含光譜分析 | |
定性:測試結(jié)果 | 顏色塊表示是否通過 | |
用戶輸入操作員名字和樣品細(xì)節(jié) | 用戶,樣品定義和描述 | |
數(shù)碼成像 | 每次測量都儲存樣品和被測面積的圖像 | |
校準(zhǔn) | 自動校準(zhǔn)程序 |
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