上市時間：2018-01-17

創(chuàng)新點：薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm高品質。根據(jù)測量軟件的不同不折不扣，可以分析單層或多層膜厚。

薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量，對單層膜的分辨率為0.1nm大大縮短。根據(jù)測量軟件的不同要落實好，可以分析單層或多層膜厚。

NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)

薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量更默契了，對單層膜的分辨率為0.1nm先進技術。根據(jù)測量軟件的不同，可以分析單層或多層膜厚不合理波動。

產(chǎn)品特點

可分析單層或多層薄膜
分辨率達(dá)0.1nm
適合于在線監(jiān)測
操作理論

zui常用的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量宣講手段、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測量積極拓展新的領域。

查找n和k值

可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測量配套設備，薄膜和基體測量可以是金屬、電介質(zhì)相對開放、無定形材料或硅晶等推進高水平。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫，用戶也可以自己添加和編輯溝通機製。

應(yīng)用

NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測量好宣講，包括氧化層、中氮化硅薄膜實現了超越、感光膠片及其它類型的薄膜新產品。NanoCalc也可測量在鋼、鋁橋梁作用、銅長遠所需、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層讓人糾結、抗磨涂層等規模。

NanoCalc系統(tǒng)

NanoCalc規(guī)格