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  • 簡介:Z3000 Plus Nicomp 380 系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來拓展基地,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布集中展示,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。
  • 簡介:貝克曼庫爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個更高的水平體系流動性,升級版PIDS專項技術探索創新、優(yōu)化的132枚檢測器,保證了儀器分辨率更高方式之一,結果更準確生動,再現(xiàn)性更好。
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