動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀
梓夢科技動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀原理
當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時規模，由于顆粒的布朗運(yùn)動引起散射光的頻率偏移近年來，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運(yùn)動速度有關(guān)發展目標奮鬥，而顆粒的布朗運(yùn)動速度又取決于顆粒粒徑的大小技術先進，顆粒大布朗運(yùn)動速度低，反之顆粒小布朗運(yùn)動速度高延伸，因此動態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強(qiáng)隨時間的漲落規(guī)律認為，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得到相關(guān)函數(shù)新趨勢，再經(jīng)過數(shù)學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息反應能力。
動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀性能特點(diǎn)
1、高效的光路系統(tǒng)：采用固體激光器和一體化光纖技術(shù)集成的光路學習，充分滿足空間相干性的要求結構重塑，極大地提高了散射光信號的信噪比聽得懂。
2、高靈敏度光子探測器：采用計數(shù)型光電倍增管或雪崩光電二極管高質量發展，對光子信號具有*的靈敏度和信噪比全方位； 采用邊沿觸發(fā)模式對光子進(jìn)行計數(shù)，瞬間捕捉光子脈沖的變化影響力範圍。
3大局、大動態(tài)范圍高速光子相關(guān)器：采用高、低速通道搭配的結(jié)構(gòu)設(shè)計光子相關(guān)器邁出了重要的一步，有效解決了硬件資源與通道數(shù)量之間的矛盾有序推進，實現(xiàn)了大的動態(tài)范圍，并保證了相關(guān)函數(shù)基線的穩(wěn)定性需求。
4道路、高精度溫控系統(tǒng)：基于半導(dǎo)體制冷技術(shù)，采用自適應(yīng)PID控制算法真諦所在，使樣品池溫度控制精度達(dá)±0.1℃指導。
5、數(shù)據(jù)篩選功能：引入分位數(shù)檢測異常值的方法充分，鑒別受灰塵干擾的散射光數(shù)據(jù)進一步完善，并剔除異常值，提高粒度測量結(jié)果的準(zhǔn)確度競爭力。
6橫向協同、優(yōu)化的反演算法：采用優(yōu)擬合累積反演算法計算平均粒徑及多分散系數(shù)，基于非負(fù)約束正則化算法反演顆粒粒度分布敢於挑戰，測量結(jié)果的準(zhǔn)確度和重復(fù)性都優(yōu)于1%不斷創新。
動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀測量
納米粒度及zeta電位分析儀是表征分散體系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)zeta電位愈高，顆粒間的相互排斥力越大提供了遵循，膠體體系愈穩(wěn)定參與水平， 因此通過電泳光散射法測量zeta電位可以預(yù)測膠體的穩(wěn)定性。
動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀原理
帶電顆粒在電場力作用下向電極反方向做電泳運(yùn)動服務效率，單位電場強(qiáng)度下的電泳速度定義為電泳遷移率明確相關要求。顆粒在電泳遷移時，會帶著緊密吸附層和部分?jǐn)U散層一起移動統籌發展，與液體之間形成滑動面深化涉外，滑動面與液體內(nèi)部的電位差即為zeta電位。Zeta電位與電泳遷移率的關(guān)系遵循 Henry方程生產製造，通過測量顆粒在電場中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位開展試點。
動態(tài)光散射納米粒度和zeta電位儀性能特點(diǎn)
1.利用光纖技術(shù)集成發(fā)射光路和接收光路，替代傳統(tǒng)電泳光散射的分立光路共同，使參考光和散射光信號的傳輸不受灰塵和外界雜散光的干擾推進一步，有效地提高了信噪比和抗干擾能力大部分。
2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜預(yù)分析，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍實際需求，然后在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移優勢。
3.基于雙電層理論模型善謀新篇，求解顆粒的雙電層厚度，獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值便利性，再利用小二乘擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式方法，進(jìn)而有效提高了納米粒度及zeta電位分析儀的計算精度。
Henry函數(shù)的取值：
當(dāng)雙電層厚度遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于顆粒的半徑提供有力支撐，即ka>>1切實把製度，Henry函數(shù)近似為1.5。雙電層厚度遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于顆粒半徑時自行開發，即ka<<1進行部署，Henry函數(shù)近似為1.0。使用小二乘曲線擬合算法對Wiersema計算的精確Henry函數(shù)值進(jìn)行擬合應用情況， 得到優(yōu)化Henry函數(shù)表達(dá)式.
強(qiáng)大易用的控制軟件
ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測量功能示範，一鍵式測量，自動調(diào)整散射光強(qiáng)有很大提升空間， 無需用戶干涉運行好，自動優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù)，以適應(yīng)不同樣品可能性更大，讓測量變得如此輕松部署安排。控制軟件更具有標(biāo)準(zhǔn)化操作(SOP)功能技術，讓不同實驗室推廣開來、不同實驗員間的測量按照同一標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行，測量結(jié)果更具有可比性相對較高。測量完成自動生成報表重要的，以可視化的方式展示測量結(jié)果，讓測量結(jié)果一目了然姿勢。
動態(tài)光散射納米粒度及zeta電位分析儀的技術(shù)指標(biāo)
