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原子力顯微鏡（AFM）是如何將樣品的表面特性呈現(xiàn)出來的
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy總之，AFM)的基本原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖支撐作用，針尖與樣品表面輕輕接觸研學體驗，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定最為突出，帶有針尖的微懸臂將對應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動落實落細。利用光學(xué)檢測法或隧道電流檢測法，可測得微懸臂對應(yīng)于掃描各點的位置變化高效化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息製高點項目。
原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)可分成三個部分：力檢測部分、位置檢測部分範圍和領域、反饋系統(tǒng)有所增加。
1、力檢測部分：
在原子力顯微鏡(AFM)的系統(tǒng)中更高要求，所要檢測的力是原子與原子之的范德華力越來越重要的位置。所以在本系統(tǒng)中是使用微小懸臂(cantilever)來檢測原子之間力的變化量。這微小懸臂有一定的規(guī)格共同學習，例如：長度順滑地配合、寬度、彈性系數(shù)以及針尖的形狀效高，而這些規(guī)格的選擇是依照樣品的特性前沿技術，以及操作模式的不同，而選擇不同類型的探針。
2影響力範圍、位置檢測部分：
在原子力顯微鏡(AFM)的系統(tǒng)中大局，當(dāng)針尖與樣品之間有了交互作用之后，會使得懸臂cantilever擺動邁出了重要的一步，所以當(dāng)激光照射在cantilever的末端時有序推進，其反射光的位置也會因為cantilever擺動而有所改變，這就造成偏移量的產(chǎn)生需求。在整個系統(tǒng)中是依靠激光光斑位置檢測器將偏移量記錄下并轉(zhuǎn)換成電的信號配套設備，以供SPM控制器">控制器作信號處理。
3相對開放、反饋系統(tǒng)：
在原子力顯微鏡(AFM)的系統(tǒng)中推進高水平，將信號經(jīng)由激光檢測器取入之后，在反饋系統(tǒng)中會將此信號當(dāng)作反饋信號拓展應用，作為內(nèi)部的調(diào)整信號生產創效，并驅(qū)使通常由壓電陶瓷管制作的掃描器做適當(dāng)?shù)囊苿樱员３謽悠放c針尖保持合適的作用力管理。
原子力顯微鏡(AFM)便是結(jié)合以上三個部分來將樣品的表面特性呈現(xiàn)出來的：在原子力顯微鏡(AFM)的系統(tǒng)中優化上下，使用微小懸臂(cantilever)來感測針尖與樣品之間的交互作用，這作用力會使cantilever擺動模樣，再利用激光將光照射在cantilever的末端生產體系，當(dāng)擺動形成時，會使反射光的位置改變而造成偏移量很重要，此時激光檢測器會記錄此偏移量能力和水平，也會把此時的信號給反饋系統(tǒng)，以利于系統(tǒng)做適當(dāng)?shù)恼{(diào)整異常狀況，后再將樣品的表面特性以影像的方式給呈現(xiàn)出來研究。
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