用你常用的儀器進(jìn)行AFM測量

在越來越多的情境下法治力量，研究人員希望結(jié)合光學(xué)和原子力顯微鏡技術(shù)全技術方案。光學(xué)顯微鏡的易用性，篩選能力和（無）樣品制備要求幾乎是的共享。然而信息化，有時目標(biāo)放大100倍的是不夠的，您想更仔細(xì)地觀察一些超出儀器分辨率的微小特征生動。在常規(guī)實驗室環(huán)境中新型儲能，您需要兩個專用儀器，并且有必要將樣品從一個設(shè)備轉(zhuǎn)移到另一個設(shè)備新品技。 使用LensAFM則不必如此範圍。憑借其極小的設(shè)計和巧妙的安裝機(jī)制，您需要做的就是旋轉(zhuǎn)光學(xué)顯微鏡或輪廓儀上的轉(zhuǎn)盤并運行掃描紮實做。

LensAFM將地集成到您的工作流程中：將其安裝在光學(xué)顯微鏡的轉(zhuǎn)盤上 - 就像常規(guī)物鏡一樣 - 您可以使用正常物鏡選樣品以找到感興趣的區(qū)域空間廣闊。隨后，使用集成的8倍光學(xué)鏡頭可以再次定位該區(qū)域，然后您可以執(zhí)行AFM測量以獲得更高分辨率的3D信息：以您慣有的方式工作雙重提升，分辨率和功能卻得到極大提升。

LensAFM具有快速卸載機(jī)制事關全面，可輕松地將LensAFM安裝到轉(zhuǎn)臺和從轉(zhuǎn)臺卸下表現明顯更佳顟B？烧{(diào)安裝保證您可以以高于10μm的精度更換它。芯片安裝座上的對準(zhǔn)凹槽還可確保下一個微懸臂的位于相同位置的4μm范圍內(nèi)指導，即使在微懸臂更換后也能再次回到相同的特征值廣泛認同。由于這些對準(zhǔn)凹槽，您甚至不需要在微懸臂上執(zhí)行激光對準(zhǔn)流動性，從而節(jié)省了額外的時間鍛造。

LensAFM 為您的光學(xué)顯微鏡帶來了所有這些測量功能，無需重新思考一整個新的工作流程持續創新。觀看視頻改善，了解提升您的顯微能力是多么容易。

提升光學(xué)顯微鏡的能力

由于光學(xué)顯微鏡的分辨率受光的波長限制協調機製，因此光學(xué)系統(tǒng)在可實現(xiàn)的分辨率上有一個極限重要的角色。在越來越多的應(yīng)用中，就需要光學(xué)和原子力顯微鏡的組合向好態勢。此外平臺建設，AFM可以無障礙表征透明樣品或其他難以光學(xué)評估的樣品。且不僅僅是樣品的形貌：AFM還允許獲得其他材料特性的知識貢獻力量，例如使用，表面粗糙度，硬度變化發行速度，磁性或電導(dǎo)/電阻更加堅強。

LensAFM 成像模式

以下描述為儀器所具備的模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項奮勇向前。詳情請瀏覽產(chǎn)品手冊或直接聯(lián)系我們

標(biāo)準(zhǔn)成像模式

靜態(tài)力模式

動態(tài)力模式(輕敲模式)

相位成像模式

電性能

導(dǎo)電探針 AFM (C-AFM)

壓電力顯微 (PFM)

靜電力顯微 (EFM)

開爾文探針力顯微(KPFM)

掃描擴(kuò)散電阻顯微 (SSRM)

磁性能

磁力顯微

機(jī)械性能

力調(diào)制

力譜

力映射

其他測量模式

刻蝕和納米操縱

LensAFM 應(yīng)用示例

LensAFM /光學(xué)平臺組合提供了一個互補的成像系統(tǒng)不斷豐富，極大地擴(kuò)展了這些儀器單獨的分辨率和測量能力，如下面的三張圖所示

相同區(qū)域由LensAFM的內(nèi)置8倍物鏡觀察到的光學(xué)視圖組建。 AFM微懸臂在光學(xué)圖像中可見各有優勢，允許在測量之前容易地定位樣品。

由LensAFM記錄的同樣缺陷的AFM形貌重要的意義。該區(qū)域的三維數(shù)據(jù)清楚地識別出該缺陷為涂層上的一個洞持續，部分被碎屑填充。