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掃描探針顯微鏡(Scanning Probe Microscope，SPM)是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的各種新型探針顯微鏡(原子力顯微鏡發揮，靜電力顯微鏡顯著，磁力顯微鏡，掃描離子電導(dǎo)顯微鏡與時俱進，掃描電化學顯微鏡等)的統(tǒng)稱性能，是國際上近年發(fā)展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術(shù)綜合運用、激光技術(shù)供給、微弱信號檢測技術(shù)、精密機械設(shè)計和加工實事求是、自動控制技術(shù)重要的意義、數(shù)字信號處理技術(shù)、應(yīng)用光學技術(shù)等多個領域、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術(shù)等現(xiàn)代科技成果的光再獲、機、電一體化的高科技產(chǎn)品應用擴展。
SPM作為新型的顯微工具與以往的各種顯微鏡和分析儀器相比有著其明顯的優(yōu)勢：
1體驗區、SPM具有很高的分辨率。它可以輕易的“看到”原子活動上，這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的有望。
2、SPM得到的是實時的導向作用、真實的樣品表面的高分辨率圖像方案。而不同于某些分析儀器是通過間接的或計算的方法來推算樣品的表面結(jié)構(gòu)。也就是說十大行動，SPM是真正看到了原子左右。
3、SPM的使用環(huán)境寬松綜合措施。電子顯微鏡等儀器對工作環(huán)境要求比較苛刻可靠保障，樣品必須安放在高真空條件下才能進行測試。而SPM既可以在真空中工作設計標準，又可以在大氣中開展、低溫、常溫發揮重要帶動作用、高溫意向，甚至在溶液中使用。因此SPM適用于各種工作環(huán)境下的科學實驗。
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