AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中關鍵技術、真空中了解情況、溶液中等環(huán)境中進行測量深入。AFM5300E還具有高低溫控制功能技術研究，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。

1. 環(huán)境控制功能（大氣大面積，真空積極參與，液體，溫控等）

AFM5300E能夠?qū)崿F(xiàn)高真空的測試環(huán)境培養，限度減小樣品表面吸附水對測試的影響交流研討，實現(xiàn)精確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制形式。另外建設應用，新開發(fā)的『溫度掃描功能』可監(jiān)視樣品Z方向的熱脹冷縮，通過控制反饋信號日漸深入，使懸臂在變溫環(huán)境下連續(xù)測試樣品表面的物理特性動力。
（3857581號、3926638號）

●大氣中　●液體中　●真空中　●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制 加熱?冷卻(-120～300℃)　高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
●外加磁場（水平互動式宣講、垂直效高性、面內(nèi)旋轉(zhuǎn)、max 5000 Oe ）

2. 簡便操作（綜合型Holder Flange）

通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』自動化，樣品和掃描器更換更為方便的同時提升，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)不折不扣。

3. 的高性能

采用了『Swing Cancel功能』支撐能力，減輕了樣品的浮動，降低了漂移高效利用。提高了納米分析性能大數據，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下

4. 通過減輕表面吸附水的影響講實踐，提高了電氣性能的檢測精度

真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響數字技術，因而實現(xiàn)高分辨高靈敏的電學性能分析。