● 一體化的即插即用的微型原子力顯微鏡（AFM）
● 使用簡單落實落細，
● 所有的標準操作模式都可用
NaioAFM 是納米教學(xué)和小樣品基礎(chǔ)研究的理想原子力顯微鏡相結合。 一體化的微型NaioAFM原子力顯微鏡提供了優(yōu)質(zhì)可靠的性能卻操作方便，價格親民製高點項目，結(jié)構(gòu)小巧更多的合作機會，適合于任何人和任何場合。
幾分鐘內(nèi)就可以開始測量
使用NaioAFM原子力顯微鏡, 僅需插上電源和USB線認為，啟動界面友好的軟件服務好，幾分鐘內(nèi)就可以開始工作，省掉了儀器設(shè)置的時間和麻煩，觀看我們的OVERVIEW 視頻你就可以知道共謀發展。 因為NaioAFM帶有懸臂校準芯片學習，探針更換也變得更加簡單，繁瑣的激光調(diào)節(jié)也不再需要市場開拓。 觀看懸臂更換視頻你就可以發(fā)現(xiàn)換針是如此的方便措施。
NaioAFM 成像模式
以下描述為儀器所具備的所有模式。某些模式可能需要其他組件或軟件選項要落實好。詳情請瀏覽宣傳冊或直接聯(lián)系我們緊密相關。
●標準成像模式
靜態(tài)力模式
動態(tài)力模式(輕敲模式)
相位成像模式
●磁性能
磁力顯微
●電性能
導(dǎo)電探針 AFM (C-AFM)
靜電力顯微 (EFM)
掃描擴散電阻顯微(SSRM)
●機械特性
力譜
力調(diào)制
剛度和模量
附著力
力映射
●其它測量模式
光刻和納米加工
NaioAFM的應(yīng)用示例
聚合物混合物的 AFM 相位成像
這是在 NaioAFM 上看到的聚合物混合物的 AFM 相位成像示例。聚合物混合物由沉積在硅上的聚苯乙烯(PS)和聚氯二苯乙烯(PB)組成先進技術。PS 在 PB 矩陣中形成孤島培訓。
用AFM進行ePTFE膜表面形貌分析
ePTFE是膨脹聚氟乙烯的縮寫，也稱為Teflon宣講手段。它的機械和醫(yī)學(xué)特性很大程度上取決于Teflon是如何膨脹的(單軸或雙軸)以及由此產(chǎn)生的ePTFE網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)重要工具。 ePTFE由于其在人體內(nèi)的惰性特性，常被用作植入材料配套設備。網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)中的空隙鼓勵軟組織生長到這樣的植入體中更優質，這有助于快速地保持植入體的位置。聚四氟乙烯有許多不同的膨脹方式推進高水平，都會導(dǎo)致不同的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)脫穎而出。因此，至關(guān)重要的是要驗證在膨脹過程之后是否獲得了所需的ePTFE結(jié)構(gòu)生產創效。
在此應(yīng)用中廣泛應用，我們使用AFM對ePTFE膜進行了分析。所記錄的形貌圖像清楚地顯示了樣品復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)橫向協同。利用集成在Nanosurf控制軟件中的測量工具哪些領域，可以方便地分析纖維的長度和結(jié)的尺寸分布。與傳統(tǒng)的分析方法-掃描電鏡成像法SEM相比不斷創新，金膜必須首先在真空中蒸發(fā)到 ePTFE 樣品上,使其導(dǎo)電才能進行操作 - 用AFM 則快得多建立和完善，也更容易執(zhí)行。使用AFM,可以直接在ePTFE上測量,無需事先對樣品進行處理參與水平。此外,與 SEM 數(shù)據(jù)相比,AFM 形貌圖實際上包含定量的深度信息大型。
AFM 力譜儀用于聚合物分析
裝有AFM的力譜儀可以對聚苯乙烯(PS)和聚丁二烯(PB)聚合物進行表征.數(shù)據(jù)分析或一組力距離曲線揭示了這兩種成分材料性能的差異。
PS-PB聚合物樣品的不同區(qū)域的力-距離曲線明確相關要求。 頂部和底部面板分別顯示 PB(頂部)和 PS(底部)上記錄的力距離曲線重要意義。中圖中的形貌圖像中的箭頭指示記錄力距離曲線的位置。如頂圖所示,可以從力距離曲線中提取不同的信息:接觸區(qū)域的斜率深化涉外、樣品壓痕體系、附著力,以及分離所需的功生產製造。斜率本身是樣品剛度的粗略估計,即 PB 比 PS 軟得多,因為接觸區(qū)域的斜率較淺(參見紅色三角形)。使用接觸力學(xué)模型(如 DMT 模型)分析力距離曲線可顯示樣品的實際剛度合理需求。
