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公司名稱 廣州四探針科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地 廣州市
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2024/12/30 14:20:12
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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化的過程中，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連廣泛關註，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離促進進步，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序優勢領先，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化迎來新的篇章，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

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LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命

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LT-2

型單晶少子壽命測(cè)試儀

LT-2型單晶少子壽命測(cè)試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命推動並實現。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量薄弱點，是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一。本儀器靈敏度較高積極回應，配備有紅外光源重要性，可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶多種場景、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等服務機製。

本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì)，由穩(wěn)壓電源使用、高頻源大幅拓展、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺(tái)共五部份組成更加堅強。采用印刷電路和高頻接插連接與時俱進。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)量數(shù)據(jù)可靠初步建立。

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

測(cè)試單晶電阻率范圍	>2Ω.cm
可測(cè)單晶少子壽命范圍	5μS～7000μS
配備光源類型	波長(zhǎng)：1.09μm綜合運用；余輝<1 μS供給；閃光頻率為：20～30次／秒；閃光頻率為：20～30次／秒實事求是；
高頻振蕩源	用石英諧振器進行探討，振蕩頻率：30MHz
前置放大器	放大倍數(shù)約25，頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測(cè)量重復(fù)誤差	<±20％
測(cè)量方式	采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
儀器消耗功率	<25W
儀器工作條件	溫度： 10-35℃服務水平、濕度 < 80％最新、使用電源：AC 220V，50Hz
可測(cè)單晶尺寸	斷面豎測(cè)：φ25mm—150mm處理方法； L 2mm—500mm重要作用；縱向臥測(cè)：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm習慣；
配用示波器	頻寬0—20MHz充足；電壓靈敏：10mV／cm；