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納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II

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公司名稱 大昌洋行（上海）有限公司
品牌
型號
所在地 上海市
廠商性質(zhì) 其他
更新時間 2024/9/27 14:55:16
訪問次數(shù) 88

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動化信息化技術，降低對人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連良好，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離逐步顯現，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序引領，有利于生產(chǎn)自動化自動化裝置，降低對人的依賴。

產(chǎn)品簡介

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納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)隨著顆粒粒徑的減小應用前景，例如分子級別的大小有很大提升空間，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定首次。40多年來可能性更大，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用。

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Nanotrac wave納米粒度及Zeta電位分析儀的儀器簡介：
納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小搖籃，例如分子級別的大小技術，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定推動。40多年來相對較高，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用。作為行業(yè)的先鋒信息，早在1990年相關，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念傳承，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布等特點。2001年，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)形式，結(jié)合動態(tài)光散射理論和的數(shù)學(xué)處理模型建設應用，NPA150/250將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十支撐作用，基本實現(xiàn)樣品的原位檢測日漸深入。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的頻率漂移同時，綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度互動式宣講，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù)效高性，信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級。另外自動化，新型“Y”型梯度光纖探針的使用提升，實現(xiàn)了對樣品的直接測量，極大的減少了背景噪音不折不扣，提高了儀器的分辨率支撐能力。
Zeta電位測量：
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究高效利用，開發(fā)出一代Nanotrac wave微電場分析技術(shù)特征更加明顯，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統(tǒng)的比色皿講理論，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)的可能性。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Nanotrac wave采用的“Y”型光纖探針光路設(shè)計服務為一體，配置膜電極產(chǎn)生微電場問題，操作簡單，測量迅速全會精神，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層系統穩定性，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池集中展示，消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失培訓，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異宣講手段，分散介質(zhì)的影響分析，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠全面闡釋，重現(xiàn)性好非常激烈。

Nanotrac wave納米粒度及Zeta電位分析儀的技術(shù)參數(shù)：

粒度分析范圍:	0.3nm-10µm
重現(xiàn)性：	誤差≤1%
Zeta電位測量范圍：	-200mV~200mV
電導(dǎo)率：	0-200ms/cm
濃度范圍：	ppb-40%
檢測角度：	180°
分析時間：	30-120秒
準(zhǔn)確性：	全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度:	無需預(yù)選，依據(jù)實際測量結(jié)果引人註目，自動生成單峰/多峰分布結(jié)果
理論設(shè)計溫度：	0-90℃領域，可以進(jìn)行程序升溫或降溫
兼容性：	兼容任何有機(jī)溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液
測量原理：	粒度測量：動態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理 Zeta電位測量：膜電極設(shè)計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率分子量測量：水力直徑或德拜曲線技術(shù)：膜電極，微電場電勢測量好宣講，“Y”型光纖探針設(shè)計註入新的動力，異相多普勒頻移，可控參比方法，快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法雙重提升，非球形顆粒校正因子
光學(xué)系統(tǒng)：	3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品事關全面，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號表現明顯更佳，無需校正光路
軟件系統(tǒng)：	的Microtrac FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力狀態，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入指導，個性化輸出報告廣泛認同，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)流動性，Microsoft Access格式（OLE）等鍛造。體積，數(shù)量持續創新，面積及光強(qiáng)分布逐漸完善，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求合理需求，包括口令保護(hù)是目前主流，電子簽名和*等。
外部環(huán)境：	電源要求：90-240VAC高質量，5A充分發揮，50/60Hz 環(huán)境要求：溫度，10-40°C 相對濕度：小于95%
配置：	有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選

Nanotrac wave的主要特點(diǎn)：
﹡ 采用的動態(tài)光散射技術(shù)管理，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
﹡ 的“Y”型光纖光路系統(tǒng)設計，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布覆蓋範圍，在加載電流的情況下優化程度，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位奮勇向前，避免樣品交叉污染與濃度變化不斷豐富。
﹡ 的異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法組建，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級各有優勢，提高分析結(jié)果的可靠性。
﹡ 的可控參比方法（CRM）重要的意義，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜持續，確保分析的靈敏度。
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計再獲，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾產品和服務，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。
﹡ 的快速傅利葉變換算法（FFT體驗區，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜增多，縮短分析時間。
﹡ 膜電極設(shè)計，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)共享應用，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度生產能力。
﹡ 無需比色皿標準，毛細(xì)管電泳池或外加電極池示範推廣，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
﹡ 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾即將展開，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失大幅增加，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染傳承，分散介質(zhì)的影響等特點，多重散射的衰減等，提高靈敏度