產(chǎn)品詳情簡介激光粒度儀 HELOS/BR，測試區(qū)域可結(jié)合干法/濕法分散系統(tǒng)或樣品適配器資源配置，用于測試0.1微米到 875微米的粒度范圍 (使用HELOS/KR, HELOS-VARIO/KR可測試到8,750微米).

激光粒度儀 HELOS/BR信息，測試區(qū)域可結(jié)合干法/濕法分散系統(tǒng)或樣品適配器，用于測試0.1微米到 875微米的粒度范圍 (使用HELOS/KR, HELOS-VARIO/KR可測試到8,750微米).

技術(shù)參數(shù) 和 尺寸.
HELOS大力發展，使用單一物理原理(在平行激光光束中的激光衍射)測試0.1-8750微米全范圍豐富內涵。儀器提供兩種計算模式：FREE：基于Fraunhofer衍射原理的無參數(shù)計算方案，MIEE：基于精確Mie理論的大量程擴展計算產能提升，可供選擇適應性。量程鏡頭的組合在這兩種計算方法下都可應(yīng)用，確保測試的寬范圍同時獲得的測試精度通過活化。
它是用于干樣和濕樣落地生根，也就是粉體、懸浮液健康發展、乳濁液和噴霧等粒度分析的經(jīng)典儀器有效保障。是符合ISO 13320"Particle size analysis - laser diffraction methods"（“粒度分析-激光衍射法”）規(guī)定，并且設(shè)計的精度相對于標準米高達±1%長效機製。
分辨率高講實踐，重復(fù)性好數字技術，結(jié)合高速的數(shù)據(jù)傳輸，網(wǎng)絡(luò)接口以及標準化的支持新帕泰克全系列儀器的WINDOX操作軟件市場開拓，保證了更的粒度解決方案措施。
HELOS分析系統(tǒng)與其模塊化的配置，通過結(jié)合適合的分散單元要落實好，用于不同性質(zhì)的樣品分析實現。

HELOS特點

(Helium-Neon Laser Optical System)

HELOS代表具有相同高品質(zhì)的激光粒度儀系列產(chǎn)品，該系列擁有以下幾個種類：

模塊1		測試范圍	應(yīng)用
HELOS	/BR	0.1 - 875 微米	實驗室/ at-line在線
	/KR	0.1 - 8 750 微米	實驗室/ at-line在線
VARIO	/KR	0.1 - 8 750 微米	實驗室/ at-line在線
MYTOS2		0.25 - 3 500 微米	on-line 在線/ at-line在線

Outstanding performance characteristics common to all HELOS sensors:

	一個測試原理涵蓋整個從0.1微米到3500微米的測試范圍組織了，632.8nm平行激光束服務體系，符合ISO 13320.
	相對于標準米，精度在±1%以內(nèi)搶抓機遇。
	最多7個測量鏡頭問題，可通過軟件選定。每個鏡頭都是特殊設(shè)計的(傅里葉-)物鏡全會精神，具有的分辨率和測試精度。
	模塊化的設(shè)計結(jié)構(gòu)拓展基地，根據(jù)實際應(yīng)用集中展示，用不同的分散系統(tǒng)與主機組合分析粉體、懸浮液體系流動性、乳濁液探索創新、氣溶膠與噴霧等。
	精密半圓形(180°)多元探測器帶自動對焦準直實現了超越，以獲得的衍射模型新產品，尤其是非球形顆粒。
	自動調(diào)節(jié)光束直徑以適應(yīng)量程鏡頭橋梁作用，從而獲得的工作距離長遠所需，這對例如擴散氣溶膠等的測試非常重要。
	使用FREE (Fraunhofer Enhanced Evaluation)模式計算粒度分布: Fraunhofer理論 (用于未知光學(xué)參數(shù)的測試)讓人糾結，測試范圍為0.1至8 750微米 MIEE (Mie Extended Evaluation): Mie理論 (用于球形的規模、各向同性的、均勻的并已知符合折射率的顆粒測試基石之一，供選擇)聯動，測試范圍為 0.1至8 750微米 量程鏡頭組合：  2-7個量程鏡頭測試可整合為一個粒度分布結(jié)果 (供選擇).
	WINDOX 5 軟件用于儀器的控制和粒度分析數(shù)據(jù)的計算： 一個軟件支持全部的off-line, at-line, on-line, in-line儀器的操作， 數(shù)據(jù)庫導(dǎo)向共同努力，多傳感器適用行業內卷，應(yīng)用于> 106 HELOS測試， 符合21 CFR rule 11 每秒收集2000次的粒度信息逐漸完善，可自定義采樣頻率 使用統(tǒng)計信息參與能力，提高反演算法
	堅固的全金屬外殼以及整合的精密光學(xué)平臺合理需求，允許傳感器在任意方向上的操作，例如用于噴霧測試時顛倒應(yīng)用研究，甚至垂直應(yīng)用 測試鏡頭轉(zhuǎn)換快速
	通信： TCP-IP接口流動性，與所有的傳感器組件和外部設(shè)備并行通信 通過內(nèi)置的Web界面進行系統(tǒng)設(shè)置 通過aux-in/out和ZigBit™無線網(wǎng)絡(luò)進行特殊裝置的控制

 
除了粒徑大小之外，對顆粒真實形貌的監(jiān)測和分析已經(jīng)變得越重要競爭激烈。圖像分析技術(shù)正是為實現(xiàn)這一目的而誕生的持續創新。
對于顆粒大小和形貌的分析技術(shù)來說，存在以下幾個重要問題：

	1.	圖像分析技術(shù)基于顆粒數(shù)的統(tǒng)計學(xué)規(guī)律空白區。如果顆粒數(shù)很少協調機製，就會造成粒度分布中很大的誤差：nmin > 1/E?max 因此為了保證1%的標準偏差，顆粒數(shù)必須大于10,000形勢。很多情況下測試結(jié)果是按照體積分布函數(shù)Q3(x)給出的實踐者。而根據(jù)后來出臺的ISO 14488 (2003)，最少顆粒數(shù)對于粒度分布結(jié)果本身具有決定性的作用約定管轄。通常為了保證小于1%的誤差數據，每次測量檢測的顆粒數(shù)必須大于1,000,000個。
	2.	顆粒與顆粒之間必須互相分開發揮。否則就必須使用非常耗時的計算方法通過軟件把團聚在一起的多個顆粒單獨識別出來顯著。未經(jīng)分散的顆粒會造成總測試顆粒數(shù)的減少并帶來更長的計算時間。
	3.	整個測試時間必須被保持在可接受的范圍內(nèi)開放以來。對于1,000,000個顆粒來說占，如果每副圖像上有10個顆粒的話，那么就需要拍100,000 幀的圖像來完成測試提供了有力支撐。按照每秒鐘拍攝25副照片的常規(guī)速度激發創作，這樣的測試將消耗400秒，也就是一次測試時間超過一個小時進一步意見。
	4.	為了獲得顆粒的真實形貌必須在照片上可以清晰的分辨它的邊緣增幅最大，這就要求所獲得的照片具有非常高的對比度和清晰度
	5.	粒子在測試過程中必須保持取向的任意性，否則得出的粒度測試結(jié)果將會不準確生產能力。