儀器簡介：
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù)，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段方式之一。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能生動，讓用戶眼見為實新型儲能，更加直觀人性化。通過子體積的掃描新品技，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來範圍。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到紮實做。
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性
自動校準(zhǔn)程序會持續(xù)工作空間廣闊，即便是樣品池被取出后。防震動設(shè)計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性提供深度撮合服務。通過掃描多個子體積并進(jìn)行平均服務品質，就可以得到可靠的統(tǒng)計結(jié)果。有3種測量模式可供選擇：粒徑集聚效應，zeta電位和濃度集成。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合互動講。
自動掃描穩定性，多可達(dá)100個子體積；
自動聚焦過程中；
小巧去突破，便于攜帶；
防震動達到；
光源從紫外線到紅光智能設備；
插入式樣品池；
理論
平移擴散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到智慧與合力。通過測試電泳遷移率喜愛，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）
所有的光散射儀器開放要求，包括粒子跟蹤技術(shù)向好態勢，都存在一個問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低服務機製。動態(tài)光散射技術(shù)的低檢測限是0.5nm貢獻力量，對于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測限是10nm大幅拓展。通常發行速度，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍。對于DLS與時俱進，當(dāng)樣品濃度太低時性能，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù)。相反綜合運用，對于高濃度的樣品供給，DLS方法會非常的適合的方法。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品進行探討，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm落到實處；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱十分落實，則檢測下限會變得更大倍增效應。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮製造業，zeta電位測量的粒徑上限為50微米優化服務策略，對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數(shù)
顆粒濃度可通過視頻分析得到發展基礎，并歸一化處理明顯，散射體積對粒徑★@示？蓹z測的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3真正做到。對于200nm的顆粒科普活動，大體積濃度為1000ppm。
準(zhǔn)確度和精度
Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv強化意識，精度4mv長期間，重現(xiàn)性5mv；
粒度測試（對于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm現場，精度4nm高端化，重現(xiàn)性4nm；
濃度測試（100納米的顆粒我有所應，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8 Mio/ml提單產，精度0.5Mio/ml，重現(xiàn)性1Mio/ml至關重要；
只要相機設(shè)置正確發展空間，樣品處理適當(dāng)，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效有所應。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的足了準備。
技術(shù)參數(shù)
