Filmetrics F20 薄膜厚度測量儀

測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)

不論您是想要知道薄膜厚度至關重要、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率用上了，F(xiàn)20都能滿足您的需要提升行動。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦關註，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果研究進展。基于模塊化設(shè)計的特點連日來，F(xiàn)20適用于各種應(yīng)用快速融入。

一：測量厚度、折射率系統、反射率和穿透率：

• 單層膜或多層膜疊加

• 單一膜層

• 液態(tài)膜或空氣層

二：不同條件下的測量增強，包括：

•  在平面或彎曲表面

• 光斑最小可達(dá)20微米

• 桌面式、XY坐標(biāo)自動化膜厚測量交流等，或在線配置

所有的這些功能都伴隨著直觀的軟件界面以及我們即時的電話和互聯(lián)網(wǎng)支持（24小時/每周5工作日）更加廣闊。這就是Filmetrics的優(yōu)勢規劃，歡迎您試一試！

膜層范例

基本上所有光滑的可以使用、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量進入當下。

這包括幾乎所有的電介質(zhì)與半導(dǎo)體材料，例如：

厚度測量范圍

測量原理為何效高化？

軟件功能以使用者為導(dǎo)向

其他的選用配件

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 桌面式薄膜厚度測量的

• 24小時電話保持競爭優勢，和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲發展機遇，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

應(yīng)用