Filmetrics-F40薄膜厚度測(cè)量?jī)x

結(jié)合顯微鏡的薄膜測(cè)量系統(tǒng)

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

Filmetrics的精密光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)工藝技術，通過(guò)對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析效率，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。

當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行損耗，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)講故事，F(xiàn)40是選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡性能穩定，再進(jìn)行測(cè)量，即可獲得精準(zhǔn)的厚度及光學(xué)參數(shù)值作用。只要透過(guò)Filmetrics的C-mount連接附件情況正常，F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭技術特點，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測(cè)量位置落實落細。

* 取決于材料

1.使用5X物鏡參考

2.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對(duì)厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續(xù)測(cè)量100次所得厚度值的標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

3.是基于連續(xù)20天高效化，每天在Si基底上對(duì)厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續(xù)測(cè)量100次所得厚度值的2倍標(biāo)準(zhǔn)偏差的平均值

選擇Filmetrics的優(yōu)勢(shì)

• 桌面式薄膜厚度測(cè)量的

• 24小時(shí)電話製高點項目，和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附加特性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費(fèi)離線分析軟件

• 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲(chǔ)範圍和領域，重現(xiàn)與繪制測(cè)試結(jié)果

相關(guān)應(yīng)用

半導(dǎo)體制造                              生物醫(yī)學(xué)原件

? 光刻膠                               ? 聚合物/聚對(duì)二甲苯

? 氧化物/氮化物                          ? 生物膜/球囊壁厚度

? 硅或其他半導(dǎo)體膜層                       ? 植入藥物涂層

微電子                                液晶顯示器

? 光刻膠                               ? 盒厚

? 硅膜                                 ? 聚酰亞胺

? 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡                     ? 導(dǎo)電透明膜