Hysitron PI95用于TEM的納米壓痕儀
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- 公司名稱 武漢瑞德儀科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 武漢市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/9/27 14:06:55
- 訪問次數(shù) 15
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用于TEM的納米壓痕儀------個能夠直接在透射電子顯微鏡內(nèi)觀察納米力學測試的設(shè)備提高鍛煉,原位納米力學測試儀器
布魯克的Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter 是能夠直接在透射電子顯微鏡 (TEM) 內(nèi)觀察的深度感應納米壓痕設(shè)備。有了這種測試儀器凝聚力量,不僅能夠?qū){米級材料的力學響應進行成像有所提升,還可以同時獲取載荷-位移數(shù)據(jù)。此外新的力量,集成視頻接口允許在載荷-位移曲線和對應的 TEM 視頻之間進行同步先進水平。
一、亮點
1)全面------深度感應納米壓痕
實現(xiàn)TEM內(nèi)納米力學測試的直接觀測全面展示;
2)高性能------高級控制模塊
提供高達 78 kHz 反饋速率和38 kHz 的數(shù)據(jù)采集速率重要平臺,以捕獲瞬態(tài)事件(如錯位突變等)。
3)精確------三級定位系統(tǒng)
包括三軸定位器核心技術、3D 壓電調(diào)整器和用于靜電驅(qū)動和電容位感應的高級傳感器應用提升。
二、特點
1)針對您的 TEM 的定制解決方案
Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設(shè)計創造性,可與 JEOL發展的關鍵、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容性能。有了這種儀器多種方式,不僅能夠?qū){米尺度材料的力學反應進行成像,而且可以同時獲取定量機械數(shù)據(jù)技術創新。集成的視頻接口允許載荷-位移曲線和相應的 TEM 視頻同步深入交流研討。
2)針對納米級研究進行了優(yōu)化
Hysitron PI 95 特別適用于納米尺度現(xiàn)象的研究。在 TEM 中執(zhí)行這些類型的研究可以明確區(qū)分力或位移瞬變的許多可能原因設施,這些原因可能包括錯位爆發(fā)需求、相變堅定不移、剝落、剪切帶或斷裂產(chǎn)生更讓我明白了。
3)的性能
Hysitron PI 95 采用三級控制進行定位和力學測試迎難而上。除了三軸粗定位器和用于精細定位的三維壓電調(diào)整器外,該儀器還配備了用于靜電驅(qū)動的傳感器和用于獲取定量納米級力學測試數(shù)據(jù)的電容位移傳感器探索。
三堅持先行、提供泛的創(chuàng)新表征技術(shù)------選項和附件
1) 樣品安裝------納米級材料的多種設(shè)計;
2)SEM 和 TEM 加熱臺------直接測量和觀察熱啟動材料轉(zhuǎn)化滿意度;
3) 原位納米劃痕模塊------同時具有正壓力和橫向力的高分辨率測量功能情況較常見;
4)納米動態(tài)力學------施加振蕩力,持續(xù)測量粘彈性和疲勞特性,獲得其作為接觸深度、頻率和時間的函數(shù)主要抓手;
5)電學特性模塊(ECM)------在納米壓痕體製、壓縮或拉伸加載期間同時進行原位電特性測量;
6)壓轉(zhuǎn)拉模塊(PTP)------專為納米線和獨立薄膜而設(shè)計創新科技。
四服務延伸、相關(guān)圖片
1)Hysitron PI 95 經(jīng)過精心設(shè)計,可與 JEOL具有重要意義、FEI進一步、日立和蔡司顯微鏡兼容
2)壓縮前和壓縮后鎳納米柱的暗場 TEM 圖像。最初在柱子中觀察到的高錯位密度在壓縮時已經(jīng)消失強大的功能。(來源:Nature Materials 7實際需求, 115-119 (2007).)
3)示例 1 μN 劃痕測試:(1) 正向和橫向載荷,正向位移隨時間變化優勢;(2-5) 原位 TEM 視頻中的相應幀善謀新篇,顯示 DLC 薄膜在顆粒頂部的變形
4)壓縮VLS法生長的n型摻雜的硅納米柱時的電學表征。 D.D. Stauffer 博士論文結構,“納米級脆性材料的變形機理”推進一步,明尼蘇達大學(2011),第 150-152 頁
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