P系列顯微鏡-擁有的光學(xué)系統(tǒng)和新一代的光學(xué)技術(shù)并內(nèi)置明場(chǎng)確定性、暗場(chǎng)、偏光損耗、微分干涉(DIC)等多種觀察方式講故事。偏光可用于顯示材料的紋理和晶體樣貌，其非常適合檢測(cè)晶片和LCD結(jié)構(gòu)性能穩定；微分干涉差(DIC)用于幫助觀察具有細(xì)微高度差異的樣品全面革新，該技術(shù)非常適合用于檢測(cè)諸如磁頭、硬盤介質(zhì)情況正常、以及拋光晶片等具有很小高度差的樣品行業分類；暗場(chǎng)是檢測(cè)標(biāo)本上細(xì)微劃痕或缺陷以及晶片等鏡面樣品的理想工具。

                             PA53MET

顯微鏡系統(tǒng)具有多種功能提高鍛煉，采用符合人體工學(xué)的易用設(shè)計(jì)發展邏輯，能夠提供 300mm 晶圓、平板顯示器有所提升、印刷電路板聽得進、以及其他大型樣本的高品質(zhì)觀察。該產(chǎn)品采用靈活的模塊設(shè)計(jì)先進水平，能夠提供適用于多種檢查用途的觀察系統(tǒng)各項要求。

                                                 Panthera TEC

通過與華顯光學(xué)EOC 圖像分析軟件結(jié)合更高要求，讓操作者更容易獲得所需的圖像和對(duì)產(chǎn)品的檢查；不僅可對(duì)樣品進(jìn)行微觀觀察新技術，還能進(jìn)行二維三維等精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)測(cè)量共同學習，從觀察到報(bào)告生成在內(nèi)的整體檢查過程都變得簡(jiǎn)單而流暢。可廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體聽得懂、紡織應用優勢、材料科學(xué)、醫(yī)療全方位、新能源高效節能、電子等行業(yè)。

                     HXJ-MX6R