
<p s="color:#333333;font-family:" font-size:14px;-color:#ffffff;"="" style="margin-top: 0px; margin-bottom: 0px; padding: 0px; color: rgb(51, 51, 51); font-family: "Microsoft Yahei", "Hiragino Sans GB", arial, sans-serif; font-size: 16px; text-wrap: wrap; background-color: rgb(255, 255, 255);">

華科智源結(jié)電容測(cè)試儀大幅增加,可以測(cè)試MOS管問題分析,IGBT,SIC器件的柵極電阻和柵極電容交流研討,包含Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容更加完善,Rg等參數(shù)形式,可以單點(diǎn)測(cè)試,也可以掃描測(cè)試曲線支撐作用;
品牌: 華科智源
名稱(chēng): 柵極電阻測(cè)試儀
型號(hào): HUSTEC-CV-1200
用途: 測(cè)試MOS管結(jié)電容日漸深入,Ciss 輸入電容 Coss 輸出電容 Crss 反向電容,Rg等參數(shù)
柵極電阻/電容測(cè)試儀
可測(cè)參數(shù): Ciss/Coss/Crss/Rg MOS管
可測(cè)器件: IGBT同時,二極管互動式宣講,氮化鎵、碳化硅 MOSFET 等
測(cè)試頻率:1MHz
測(cè)試電壓范圍:Vds 0~1200V模式,Vgs ±25V
信號(hào)電壓范圍:1mV~1000mV
Rg 范圍:≤300Ω
測(cè)試精度:0.01pf
華科智源柵極電阻/電容測(cè)試儀特點(diǎn):
1自動化,測(cè)試速度快。
2發揮重要帶動作用,可點(diǎn)測(cè)和掃描曲線意向。
3,測(cè)試精度高文化價值,測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定精準(zhǔn)形式。
4,可隨時(shí)保存數(shù)據(jù)和波形不斷完善,可直接生成規(guī)格書(shū)用的圖片或 CSV 描點(diǎn)文件數字化。