應(yīng)用領(lǐng)域
脈沖射頻輝光放電光譜儀不僅可對(duì)表面/深度進(jìn)行剖析帶來全新智能，同時(shí)也可做成分分析。它對(duì)固體材料新產品，如金屬去完善、金屬合金鍍層、半導(dǎo)體長遠所需、有機(jī)鍍層求索、玻璃等中所有的元素都有很高的靈敏度，甚至是氣體元素也可進(jìn)行分析規模。
作為新興的表面分析技術(shù)穩定發展，輝光放電光譜儀憑借其功能和特點(diǎn)基石之一，可以與XPS和SEM有很好的互補(bǔ)。
GD-OES功能及用途
脈沖射頻輝光放電光譜儀能夠在短短幾分鐘內(nèi)幫助您獲得如下信息：
樣品中含有什么元素增持能力？
屬于哪個(gè)濃度水平共同努力？
樣品在深度上是否分布均勻？
樣品是否有鍍層或應(yīng)用了表面處理追求卓越？
鍍層的厚度是多少逐漸完善？
界面是否有污染？
樣品是否被氧化合理需求？
不同層之間是否存在散射是目前主流？

新的脈沖射頻輝光源可以測(cè)試任何類型的固體樣品：包括導(dǎo)體、非導(dǎo)體發力，甚至是在檢測(cè)脆性樣品或熱敏樣品時(shí)也具有優(yōu)異的性能優勢領先。
HORIBA Scientific的所有GD儀器都采用了高動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)器，采用該項(xiàng)技術(shù)共創美好，使儀器的靈敏度可以做到實(shí)時(shí)推動並實現、自動(dòng)優(yōu)化。這樣在分析樣品的時(shí)候可以做到對(duì)樣品的痕量變化到常量濃度分析協調機製，進(jìn)行快速靈敏的檢測(cè)而無需任何折衷或參數(shù)預(yù)設(shè)信息化。

GD-Profiler™ HR
概要
HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler™ HR 對(duì)于解決分析問題，即使是復(fù)雜的基體實踐者，提供了高分別率和元素?cái)?shù)量取得明顯成效。60種元素（包括氣體元素）可以同時(shí)分析。
特征
RF射頻發(fā)生器- 標(biāo)準(zhǔn)配置數據，符合E級(jí)標(biāo)準(zhǔn)創新的技術，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦顯著，等離子體穩(wěn)定時(shí)間極短快速增長，表面信息無任何失真。
脈沖工作模式既可分析常見的涂占、鍍層和薄膜高質量，也可以很好的分析熱傳導(dǎo)性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜激發創作。
多道(同時(shí))型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋前景，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外增幅最大，可分析C, H, O, N, Cl
HORIBA Jobin Yvon 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量共享應用，因而有高的光效率和靈敏度
HDD® 檢測(cè)器可進(jìn)行快速而高靈敏的檢測(cè)，動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到10個(gè)量級(jí)
寬大的樣品室方便各類樣品的加載
QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測(cè)報(bào)告
激光指點(diǎn)器可用于準(zhǔn)確加載樣品
HORIBA Jobin Yvon單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性標準，可同時(shí)測(cè)定N+1個(gè)元素
GD-Profiler HR 1米焦距示範推廣，分辨率高達(dá)14pm堅持好，可同時(shí)分析60個(gè)元素.
GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀，分辨率高達(dá)9pm.