85563A--機械校準套件主要特性與技術指標：
123 dB 的動態(tài)范圍和<0.006 dB 的跡線噪聲
<26 微秒/點的測量速度創造更多，32 個通道宣講活動，20001 個測量點
支持TRL/LRM 校準，提供晶圓工藝技術、夾具效率、波導和天線測量
混頻器變頻損耗、回波損耗損耗、隔離和群延遲
放大器增益壓縮講故事、諧波、IMD 和脈沖射頻
Agilent E8362C描述：
可進行通用網(wǎng)絡分析性能穩定，并可使用可選的軟件和/或硬件定制

85563A--機械校準套件

<0.006 dB的跡線噪聲 <26微秒/點的測量速度，32個
110 dB的動態(tài)范圍作用，<0.006 dB的跡線噪聲
<26微秒/點的測量速度情況正常，32個通道，16,001點
支持TRL/LRM校準技術特點，晶片上落實落細、夾具內(nèi)、波導和天線測量
混頻器轉換損耗高效化、回波損耗製高點項目、隔離和***群延遲
放大器增益壓縮、諧波範圍和領域、IMD和脈沖射頻
 

主要特性與技術指標
·123 dB動態(tài)范圍和<0.006 dB跡線噪聲
·<26微秒/點的測量速度有所增加，32個通道，16,001點
·支持TRL/LRM校準更高要求，提供晶圓越來越重要的位置、夾具、波導和天線測量
·混頻器轉換損耗共同學習、回波損耗順滑地配合、隔離和***群延遲
·放大器增益壓縮、諧波效高、IMD和脈沖射頻前沿技術。

125分貝的動態(tài)范圍在20吉赫
.< 0.006分貝的噪聲在1千赫ifbw痕跡
.< 26?秒/點測量速度
.32個測量通道與16001通道的每一點
.支持系統(tǒng)/標準校準***的實驗基礎，in-fixture，和波導測量
.可選的混頻器和放大器測量能力
.可選的向量誤差糾正混頻器和轉換測量
.可選配置測試集
.可選的時域測量能力
.可選頻率擴展到325吉赫

安捷倫e8362b成員是安捷倫的系列網(wǎng)絡分析儀平臺和提供結合速度和精度的苛刻要求今天的高頻率多種方式，
高性能的組件測試要求對外開放。巴勒斯坦民族***機構系列滿足這些測試的挑戰(zhàn)提供適當結合快速掃描速度，
寬動態(tài)范圍邁出了重要的一步，低噪聲和靈活的連接跟蹤有序推進。該e8362b現(xiàn)在提供的能力，更準

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