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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 日立高新技術(shù)（上海）國際貿(mào)易有限公司北京分公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì) 其他
更新時(shí)間 2021/2/26 18:37:16
訪問次數(shù) 815

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2020年01月08日至 2020年02月08日

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模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度新品技；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連範圍，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前紮實做，消除后續(xù)工序空間廣闊，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴提供深度撮合服務。

產(chǎn)品簡介

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AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡服務品質，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中組成部分、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量影響。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響的過程中。

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環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E

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環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E

AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡發展契機，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中促進進步、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量發力。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響競爭激烈。

特點(diǎn)
規(guī)格
應(yīng)用數(shù)據(jù)

特點(diǎn)

1. 環(huán)境控制功能（大氣持續創新，真空改善，液體，溫控等）

AFM5300E能夠?qū)崿F(xiàn)高真空的測試環(huán)境協調機製，大限度減小樣品表面吸附水對(duì)測試的影響信息化，實(shí)現(xiàn)精確的物理特性測量。真空環(huán)境下可以實(shí)現(xiàn)更大范圍的溫度控制實踐者。
（3857581號(hào)取得明顯成效、3926638號(hào)）

●大氣中　●液體中　●真空中　●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制加熱?冷卻(-120～300℃)　高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)

2. 簡便操作（綜合型Holder Flange）

通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時(shí)數據，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整創新的技術。也省去測試模式切換時(shí)的支架更換環(huán)節(jié)。

3. 的高性能

采用了『Swing Cancel功能』發行速度，減輕了樣品的浮動(dòng)更加堅強，降低了漂移。提高了納米分析性能性能，提升了可信度初步建立。

4. 通過減輕表面吸附水的影響，提高了電氣性能的檢測精度

真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響供給，因而實(shí)現(xiàn)高分辨高靈敏的電學(xué)性能分析的方法。

規(guī)格

規(guī)格
分辨率	原子相
樣品尺寸	20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴(kuò)展至20 mm)
樣品移動(dòng)范圍	X-Y stage 5 mm
掃描范圍	標(biāo)準(zhǔn)： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環(huán)差控制）定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學(xué)顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍）
檢測功能	AFM（接觸模式） DFM（輕敲模式） PM（相位） FFM（摩擦） MFM（磁力） SIS模式 LM-FFM（橫向摩擦） VE-AFM/DFM（粘彈性） Adhesion（吸附力） CURRENT（電流） SSRM（擴(kuò)展抵抗） SNDM（非線性介電常數(shù)） PRM（壓電響應(yīng)）進行探討、KFM（表面電位）液體中AFM/DFM EC-AFM/STM NanoIndentation（硬度） Nano-TA（微區(qū)加熱）
選配件	高溫加熱樣品臺(tái) 加熱冷卻兼用樣品臺(tái) 冷卻真空溫度控制

應(yīng)用數(shù)據(jù)

Nd-Fe-B永磁鐵的離子研磨-SEM-SPM聯(lián)用觀察(PDF格式落到實處、705kBytes)
SEM&SNDM對(duì)摻雜濃度進(jìn)行分析(PDF格式、735kBytes)
SNDM功能觀察SiC器件截面的摻雜濃度(PDF格式最新、792kBytes)
SEM和SPM聯(lián)用在橡膠材料研究方面的應(yīng)用(PDF格式技術創新、876kBytes)
大氣和真空環(huán)境下SPM測量樣品功函的差異(PDF格式、422kBytes)
離子研磨儀在Nd-Fe-B磁鐵的SPM觀察中的應(yīng)用(PDF格式重要作用、922kBytes)
離子研磨儀在鋰離子電池的掃描探針顯微鏡觀察中的應(yīng)用(PDF格式增多、752kBytes)
鋰離子電池電極材料通過真空轉(zhuǎn)移系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)離子研磨截面加工?SEM-SPM同一視野觀察(PDF格式、1302 kBytes)

應(yīng)用數(shù)據(jù)

介紹掃描探針顯微鏡的應(yīng)用數(shù)據(jù)有望。

說明

解說掃描式隧道顯微鏡（STM）和原子力顯微鏡（AFM)等的原理和各種狀態(tài)原理進一步推進。

歷史和SPM發(fā)展

描述我們的掃描探針顯微鏡和我們的設(shè)備的歷史和發(fā)展。(Global site)

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環(huán)境型原子力顯微鏡 AFM5300E

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