用于測量薄膜和微小區(qū)域的熱發(fā)射率

特征
- 熱物理特性顯微鏡是一種測量熱效率的設(shè)備,熱效率是熱物理特性值之一提供了遵循。
- 它是一種可以通過點規模,線和表面來測量樣品的熱性能的設(shè)備。
- 還可以測量微米級的熱物理性質(zhì)分布基石之一,這是常規(guī)熱物理性質(zhì)測量裝置所難以做到的聯動。
- 它是世界上可對熱物理性質(zhì)進(jìn)行非接觸式和高分辨率測量的設(shè)備。
- 3μm的檢測光斑直徑可實現(xiàn)微小區(qū)域的高分辨率熱物理性質(zhì)測量(點/線/表面測量)共同努力。
- 由于可以通過改變深度范圍進(jìn)行測量行業內卷,因此可以測量從薄膜/多層膜到塊狀材料。
- 您也可以在板上測量樣品逐漸完善。
- 激光非接觸式測量參與能力。
- 可以檢測薄膜下的裂縫,空隙和剝離是目前主流。
熱物理顯微鏡的測量原理(概述)
在樣品上形成金屬薄膜充分發揮,并用加熱激光器定期加熱。
- 由于金屬的反射率具有隨表面溫度變化的性質(zhì)(熱電阻法)應用創新,因此通過捕捉與加熱激光同軸照射的檢測激光的反射強(qiáng)度的變化提高,來測量表面的相對溫度變化。做的特性。
- 熱量從金屬薄膜傳播到樣品交流,導(dǎo)致表面溫度響應(yīng)的相位延遲。該相位延遲取決于樣品的熱性質(zhì)提供堅實支撐。通過測量加熱光和檢測光之間的相位延遲來獲得熱效率還不大。

主要規(guī)格
名稱/產(chǎn)品名稱 | 熱物理特征顯微鏡/熱顯微鏡 |
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測量方式 | 熱物理性質(zhì)分布測量(1D,2D信息化技術,1點) |
測量項目 | 熱效率發揮作用,(熱擴(kuò)散率),(熱導(dǎo)率) |
檢測光斑直徑 | 約3μm |
1點測量標(biāo)準(zhǔn)時間 | 10秒 |
待測薄膜 | 厚度幾百納米到幾十微米 |
重復(fù)精度 | 耐熱玻璃和硅的熱效率小于±10% |
樣本 | 1.樣品架30 mm x 30 mm厚度5 mm 2.板狀樣品30 mm x 30 mm以下且3 mm以下
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工作溫度極限 | 24°C±1°C(根據(jù)設(shè)備中內(nèi)置的溫度傳感器) |
平臺移動距離 | ? X軸方向20mm ? Y軸方向20mm ? Z軸方向10mm |
激光加熱 | 半導(dǎo)體激光波長:808nm |
激光檢測 | 半導(dǎo)體激光波長:658nm |
電源 | 交流100V 1.5kVA |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 樣品架,參考樣品 |
選項 | 光學(xué)平臺,空調(diào)示範,空調(diào)房應用前景,濺射設(shè)備 |
- 性能和外觀如有更改,恕不另行通知運行好。