?針對地質(zhì)領(lǐng)域和環(huán)境科學(xué)分析專門而設(shè)計、注重原位分析
?具有超高的靈敏度
?U-Pb地質(zhì)學(xué)定年應用提升、穩(wěn)定同位素分析主動性、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器

二次離子質(zhì)譜概述

1. 一定能量的離子打到固體表面會引起表面原子、分子或原子團(tuán)的二次發(fā)射發展的關鍵，即離子濺射體系。濺射的粒子一般以中性為主，其中有一部分帶有正帶動產業發展、負(fù)電荷責任製，這就是二次離子。利用質(zhì)量分析器接收分析二次離子就得到二次離子質(zhì)譜邁出了重要的一步。根據(jù)濺射的二次離子信號有序推進，可對被轟擊樣品的表面和內(nèi)部元素及分布特征進(jìn)行分析。
2. 二次離子質(zhì)譜儀主要用于材料學(xué)（半導(dǎo)體需求、薄層堅定不移、絕緣材料等）、地質(zhì)空間學(xué)更讓我明白了、天體化學(xué)迎難而上、環(huán)境微生物學(xué)和細(xì)胞學(xué)。
3. 主要功能：

               質(zhì)譜分析-表面微區(qū)元素組成

               痕量元素深度剖析

               二次離子成像及顯微圖像分布（2＆3D）

               穩(wěn)定同位素豐度比

               放射性顆粒分析

               地質(zhì)定年

大型二次離子質(zhì)譜 IMS 1280-HR

1. 針對地質(zhì)領(lǐng)域和環(huán)境科學(xué)分析專門而設(shè)計探索、注重原位分析
2. 具有超高的靈敏度
3. U-Pb地質(zhì)學(xué)定年堅持先行、穩(wěn)定同位素分析、痕量元素以及放射性顆粒分析的zui高水平分析儀器

     K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection)

     Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection)

     Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection)

     Li-U區(qū)間元素快高精確度同位素豐度比測量

大型二次離子質(zhì)譜性能優(yōu)勢

1. 靈活多用的多接受系統(tǒng)滿意度，尤其適于用于同位素分析情況較常見。
2. 兩種具有反應(yīng)活性的的一次離子源，在數(shù)據(jù)采集的同時可對其進(jìn)行監(jiān)控主要抓手。
3. 具有高度再現(xiàn)能力的樣品臺體製。
4. NMR高分辨磁場控制。
5. *的圖像功能創新科技。
6. *計算機(jī)化自動工作服務延伸，可遠(yuǎn)程監(jiān)控。
7. 通過加入一個新的六極靴，對耦合進(jìn)行了重新設(shè)計進一步，減少了軸上二次畸變大部分。
8. 多接受模式下，峰形得到很大的改善應用的因素之一。
9. 優(yōu)化了真空以降低背底解決，有利于探測輕元素，氫化物敢於監督。

在單接受模式以及高質(zhì)量分辨率下幅度，通過靜電壓跳峰，提高了穩(wěn)定性重要的作用。