三離子束技術(shù)

三離子束部件垂直于樣品側(cè)表面勞動精神，因此在進行離子束轟擊時樣品（固定在樣品托上）不需要做擺動運動以減少投影/遮擋效應(yīng)開展攻關合作，這又保證有效的熱傳導，減少樣品在處理過程中受熱變形預下達。
技術(shù)
三離子束匯聚于擋板邊緣的中點的有效手段，形成一個100°轟擊扇面，切向暴露于擋板上方的樣品（樣品上端高出擋板約20-100μm）方案，直到轟擊到達樣品內(nèi)部目標區(qū)域關鍵技術。新型設(shè)計的離子槍可產(chǎn)生的離子束研磨速率達到300μm/h (Si10 kV，3.0 mA深入，50μm切割高度)技術研究。徠卡*的三離子束系統(tǒng)，可獲得優(yōu)異的高質(zhì)量切割截面開展研究，并且速率高姿勢，切割面寬且深，這可大大節(jié)約工作時間培養。通過這一*技術(shù)可獲得高質(zhì)量切割截面交流研討，區(qū)域尺寸可達>4×1mm

Leica EM TIC 3X - 設(shè)計和操作方面的創(chuàng)新性特點

高通量，提高成本收益
??可獲得高質(zhì)量切割截面形式，區(qū)域尺寸可達>4×1mm
??多樣品臺設(shè)計可一次運行容納三個樣品
??離子研磨速率高建設應用，Si材料300μm/h，50μm切割高度日漸深入，可滿足實驗室高通量要求
??可容 納 大 樣 品 尺 寸 為50×50×10mm
??可使用的樣品載臺多種多樣簡單易用動力，高精度
??可簡易準確地完成將樣品安裝到載臺上以及調(diào)節(jié)與擋板相對位置的校準工作
??通過觸摸屏進行簡單操控，不需要特別的操作技巧
??樣品處理過程可實時監(jiān)控互動式宣講，可以通過體視鏡或HD-TV攝像頭觀察
?? LED照明生產效率，便于觀察樣品和位置校準
??內(nèi)置式，解耦合設(shè)計的真空泵系統(tǒng)適應性，提供一個無振動的觀察視野
??可在制備好的平整的切割截面上可再進行襯度增強作用節點，即離子束刻蝕處理。
??通過USB即可進行參數(shù)和程序的上傳或下載
??幾乎適用于任何材質(zhì)樣品
??使用冷凍樣品臺落地生根，擋板和樣品溫度可降至–150°C

多種多樣的樣品載臺

幾乎適合于各式尺寸樣品的特點，并適合于廣泛用途。如用一個樣品托有效保障，就可以完成前機械預制備（徠卡EM TXP）至離子束切割（徠卡EM TIC 3X）大數據，以及SEM鏡檢，然后再放入樣品存儲盒中以備后續(xù)檢測講實踐。

襯度增強

在離子束切割之后數字技術，無需取下樣品，用同樣的樣品載臺還可對樣品進行襯度 增強作用市場開拓，可以強化樣品內(nèi)不同相之前的拓撲結(jié)構(gòu)（如晶界）

高精度

現(xiàn)在措施，樣品中越來越小的細節(jié)結(jié)構(gòu)正逐步受到人們的關(guān)注大大縮短。而通過切割獲得截面，如獲得很小的TSVia孔結(jié)構(gòu)緊密相關，已經(jīng)變得輕而易舉更默契了。所有樣品臺都設(shè)計達到±2μm的樣品位置校準精度。不僅樣品臺的控制精度可以實現(xiàn)如此精確的目標定位校準工作培訓，觀察系統(tǒng)也可觀察小約3μm大小的樣品細節(jié)不合理波動，以便進行精確的目標定位。為幫助定位時更好地觀察樣品分析，4分割LED環(huán)形光源或LED同軸照明提供很大幫助表示，幫助使用者從體視鏡或HD-TV攝像頭中獲得清晰的圖像。
由于將真空泵內(nèi)置于儀器內(nèi)部非常激烈，因此不需要再單獨騰出一個空間拓展基地。得益于真空泵的解耦合設(shè)計，在樣品制備過程中實力增強，觀察視野不會受到真空泵產(chǎn)生的振動干擾體系流動性。