新型FT160 XRF鍍層分析儀適用于當今微型電子器件的先進微焦斑和超薄鍍層分析儀

納米級鍍層的快速合規意識、準確分析
 

　　FT160 XRF鍍層分析儀準確、可靠地測量小部件上的鍍層有效性，有助于您在PCB創新內容、半導體晶片和微連接器上維持一致且準確的鍍層。
 

　　FT160專為微焦斑和超薄鍍層分析而設計廣泛關註，針對小部件的測量優(yōu)化了光學系統(tǒng)和探測器技術善於監督。
 

　　使用FT160 XRF鍍層分析儀可實現(xiàn)更多操作：
 

　　高強度X射線——儀器的核心是一個具有30μm光束的新型毛細管光學系統(tǒng)，非常適合微小的半導體圖案和超小組件就能壓製。
 

　　高靈敏度的SDD探測器——這款高性能設備使計數(shù)速率翻倍更合理，從而提高生產(chǎn)率。
 

　　高清相機——觀察相機的分辨率高更優美，其具有16倍數(shù)字變焦功能各方面，更容易觀察半導體和PCB表面并易于導航。
 

　　智能控制器軟件——可對FT160進行依照形狀和圖案自動查找測量位置的編程成效與經驗，以提高測量吞吐量和準確性適應性。
 

　　精密分析
 

　　樣品臺定位精度和毛細管X射線光學系統(tǒng)能提供高精度，可測量尺寸小于50µm的部件上的納米級鍍層便利性。
 

　　快速分析
 

　　與傳統(tǒng)裝置相比方法，F(xiàn)T160內(nèi)的新型高強度毛細管光學系統(tǒng)和改良版SDD探測器有助于使儀器的測量吞吐量翻倍。
 

　　多功能性
 

　　大型樣品門有助于輕松裝載和移除部件提供有力支撐，同時大型樣品臺可容納各種形狀和尺寸的組件切實把製度。
 

　　耐用性
 

　　堅固耐用的機架經(jīng)過設計和測試，可在具有挑戰(zhàn)性的生產(chǎn)或實驗室環(huán)境中長時間使用自行開發。
 

　　FT160的強大功能使其成為工作繁重的實驗室的理想選擇進行部署。為維持工作流程，這些實驗室注重準確性品質、多功能性和分析效率利用好。
 

　　FT160能夠提供：
 

　　|毛細管光學系統(tǒng)和高靈敏度的SDD探測器，以提供出色準確性解決問題。
 

　　|測量尺寸小于50µm的部件系列。
 

　　|快速結果和使用簡易性作用，以支持高吞吐量。
 

　　|用于快速設置樣品的大型樣品門和樣品臺慢體驗。
 

　　|進行測試觀察的大型樣品觀察窗著力增加。