XRF6C能量射線熒光分析儀特點
（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光）我有所應，它是一種非破壞性分析方法，可以對試樣進行多元素快速分析深入實施。

主要特點： 

. 準(zhǔn)確測定黃金至關重要、鉑金、銀飾品中的金效果、銀有所應、鉑、鈀合作關系、銅著力提升、鋅、鎳增強、銥等元素含量重要意義，根據(jù)定義 給出符合國標(biāo) GB/T18043 要求的測試結(jié)果； 

. 自動識別樣品類型更加廣闊，自動切換不同類型首飾樣品的測試模式規劃； 

. 儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)樣品，具備自動校正功能可以使用，開機自動完成能量刻度進入當下、標(biāo)準(zhǔn)曲線校正、預(yù)熱一系 列動作效高化，免除人為操作帶來的誤差和錯誤新體系； 

. 一鍵式測試操作，開啟軟件并放入樣品后最為顯著，按下一鍵即可完成測試獲得結(jié)果尤為突出，免除所有繁瑣 復(fù)雜的手工設(shè)置和操作規定； 

. 具備高級自定義測試功能，開放各種參數(shù)調(diào)試調(diào)整空間載體，可建立自定義標(biāo)準(zhǔn)曲線高質量，可保存或?qū)?導(dǎo)出自定義的數(shù)據(jù)庫和測試模式。

1.XRF6C能量射線熒光分析儀特點

（注）：X射線熒光（XRF）分析法是測定有初級X射線激發(fā)樣品時所產(chǎn)生的二次特征X射線（X射線熒光）重要組成部分，它是一種非破壞性分析方法流程，可以對試樣進行多元素快速分析。

• *多光束可調(diào)系統(tǒng)勃勃生機；

• 高分辨率SDD 硅漂移探測器助力各業；

• 快速定性分析；

• 完善的輻射安全防護提供有力支撐；

• RoHS/WEEE 指令元素快速分析應用；

•  內(nèi)標(biāo)法與基本參數(shù)法組成強大定量分析方法群；

•  內(nèi)置各類標(biāo)準(zhǔn)樣品曲線數(shù)據(jù)庫加強宣傳。

2.XRF6C能量射線熒光分析儀參數(shù)

• 元素分析范圍：AI-U

•  含量分析范圍：1ppm~99.99%

• 重復(fù)性：＜5%

• 測量時間：一般60~300s

•  測量對象：塊狀物體臺上與臺下、粉末、液體

•  激發(fā)功率：50W

• 探測器分辨率：149gev

• 輸入電源：AC110V/220V

•  高壓電源：0~50kv/0~1mA

• X射線輻射劑量：≤1Sv/h

3.能量射線熒光分析儀部分元素 在低數(shù)值中可檢出

代表性元素120s可檢出限LOD(mg/kg)

性能指標(biāo)