BY.79-51型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀設備製造、塊狀半導體材料的電阻率發展需要，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻（簡稱方阻）管理，換上四端子測試夾具顯示，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低效率和安、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量設計能力。

本測試儀可贈設電池供電，適合手持式變動場合操作深入開展！

儀器所有參數(shù)設定更為一致、功能轉換全部采用一旋鈕輸入；具有零位技術的開發、滿度自校功能研究與應用；自動轉換量程；測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成更高效，故定位準確全面協議、游移率小、壽命長具體而言；測試結果由數(shù)字表頭直接顯示新的動力。

基本技術參數(shù)

1. 測量范圍的過程中、分辨率

電    阻：     1.0×10-2 ～ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10  Ω

電 阻 率：     1.0×10-3～ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ～ 0.1  Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10-3 ～ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測半導體材料尺寸（手持式）

直        徑：  測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長（或高）度：  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級

4） 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W廣泛關註，或電池供電

5） 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg