LY.4-8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備業務指導。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的改進措施，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。
    儀器由主機長足發展、測試臺今年、四探針探頭、計算機等部分組成結構不合理，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示動手能力，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析，然后以表格意見征詢，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果提升。
    儀器采用了電子技術進行設計、裝配示範。具有功能選擇直觀應用前景、測量取數(shù)快、精度高運行好、測量范圍寬首次、穩(wěn)定性好、結構緊湊部署安排、易操作等特點搖籃。
    本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠生產能力、科研單位標準、高等院校對半導體材料的電阻性能測試示範推廣。
LY.4-8型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的即將展開，于測試半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器大幅增加。
    儀器由主機、測試臺傳承、四探針探頭等特點、計算機等部分組成，測量數(shù)據(jù)既可由主機直接顯示多種，亦可由計算機控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計算機中加以分析將進一步，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計分析顯示測試結果發展成就。
    儀器采用了電子技術進行設計成就、裝配。具有功能選擇直觀開展面對面、測量取數(shù)快系統、精度高、測量范圍寬自動化、穩(wěn)定性好提升、結構緊湊、易操作等特點不折不扣。
    本儀器適用于半導體材料廠、半導體器件廠資源優勢、科研單位高效利用、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。