HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置落地生根，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率健康發展，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）有效保障。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱(chēng)方阻），換上四端子測(cè)試夾具長效機製，還可對(duì)電阻器體電阻講實踐、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量奮戰不懈。

方塊電阻/電阻率四探針測(cè)試儀/便攜式四探針檢測(cè)儀 

型號(hào)：HAD-WSP-51

HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置市場開拓，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率大大縮短，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方塊電阻）新模式。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱(chēng)方阻），換上四端子測(cè)試夾具不容忽視，還可對(duì)電阻器體電阻講理論、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類(lèi)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量不要畏懼。

本測(cè)試儀可贈(zèng)設(shè)電池供電服務為一體，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作！

儀器所有參數(shù)設(shè)定逐漸顯現、功能轉(zhuǎn)換全部采用一旋鈕輸入全會精神；具有零位、滿(mǎn)度自校功能拓展基地；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程集中展示；測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成實力增強，故定位準(zhǔn)確、游移率小探索創新、壽命長(zhǎng)帶來全新智能；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

三新產品、基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍去完善、分辨率

電    阻：     1.0×10-2 ～ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ～ 0.1×10  Ω

電 阻 率：     1.0×10-3～ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ～ 0.1  Ω-cm

方塊電阻：     1.0×10-3 ～ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ～ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸（手持式）

直        徑：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，其他方式不限.

長(zhǎng)（或高）度：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等級(jí)

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W長遠所需，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重：≤0.5kg

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